現(xiàn)代材料微觀分析方法

　　本書先介紹晶體材料物相分析常用的X射線衍射分析，詳細介紹了X射線的發(fā)現(xiàn)、X射線的本質(zhì)和 X 射線的特性，重點介紹X射線衍射方向、衍射強度、衍射方法、物相分析及應(yīng)用。接著介紹材料表面形貌和成分分析常用的掃描電子顯微鏡、透射電子顯微鏡、掃描探針顯微鏡、X射線光電子能譜。然后介紹材料分子結(jié)構(gòu)分析常用的紅外光譜和拉曼光譜。最后介紹廣泛應(yīng)用于無機物和有機高分子材料成分分析、相變和熱分解機理的熱分析技術(shù)。本書涉及到了金屬材料、無機非金屬材料和高分子材料的各種常用的現(xiàn)代分析方法，注重理論與實際應(yīng)用相結(jié)合，既著重介紹了現(xiàn)代技術(shù)的發(fā)展歷史和基本原理，又在實例分析中引入了一些當(dāng)前材料界最新的研究成果。 本書可作為高等院校材料專業(yè)本科教材，也可供相關(guān)學(xué)科與專業(yè)的研究生和材料相關(guān)科技工作者使用。

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