圖解GPS表面結(jié)構(gòu)精度規(guī)范及應(yīng)用

目錄
叢書(shū)序言
前言
第1章 概論1
1.1表面結(jié)構(gòu)的含義1
1.2表面結(jié)構(gòu)標(biāo)準(zhǔn)體系的發(fā)展概況2
1.2.1表面結(jié)構(gòu)的ISO標(biāo)準(zhǔn)發(fā)展概況2
1.2.2表面結(jié)構(gòu)的國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)發(fā)展概況3
1.3表面結(jié)構(gòu)精度對(duì)產(chǎn)品性能的影響6
1.4本書(shū)的框架結(jié)構(gòu)7
第2章 表面結(jié)構(gòu)輪廓法的參數(shù)及表示法圖解8
2.1表面結(jié)構(gòu)輪廓法的術(shù)語(yǔ)及評(píng)定參數(shù)8
2.1.1一般術(shù)語(yǔ)9
2.1.2幾何參數(shù)術(shù)語(yǔ)11
2.1.3表面輪廓參數(shù)定義12
2.1.4新舊國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)的差異16
2.1.5表面結(jié)構(gòu)評(píng)定的流程18
2.2表面粗糙度參數(shù)值18
2.2.1幅度參數(shù)值18
2.2.2間距參數(shù)值和曲線參數(shù)值19
2.2.3取樣長(zhǎng)度和評(píng)定長(zhǎng)度值19
2.3表面結(jié)構(gòu)的圖形參數(shù)20
2.3.1基本術(shù)語(yǔ)20
2.3.2圖形參數(shù)22
2.3.3圖形參數(shù)的測(cè)量條件23
2.3.4圖形參數(shù)的評(píng)定程序24
2.3.4.1表面粗糙度原始輪廓的深度識(shí)別24
2.3.4.2圖形合并的判別條件24
2.3.4.3圖形合并流程25
2.3.4.4圖形參數(shù)的計(jì)算27
2.3.5圖形參數(shù)與表面功能的關(guān)系28
2.4表面缺陷參數(shù)29
2.4.1一般術(shù)語(yǔ)及定義29
2.4.2表面缺陷的特征和參數(shù)30
2.4.3表面缺陷的類(lèi)型30
2.5表面結(jié)構(gòu)的表示法34
2.5.1表面結(jié)構(gòu)的符號(hào)34
2.5.2表面結(jié)構(gòu)的完整圖形符號(hào)35
2.5.3表面結(jié)構(gòu)參數(shù)代號(hào)36
2.5.3.1表面輪廓參數(shù)代號(hào)36
2.5.3.2圖形參數(shù)代號(hào)37
2.5.3.3表面結(jié)構(gòu)支承率曲線參數(shù)代號(hào)37
2.5.4表面結(jié)構(gòu)參數(shù)的標(biāo)注規(guī)則37
2.5.5表面結(jié)構(gòu)要求在圖樣和其他技術(shù)產(chǎn)品文件中的注法40
2.5.6表面結(jié)構(gòu)要求的標(biāo)注示例42
2.6評(píng)定表面結(jié)構(gòu)的規(guī)則和方法45
2.6.1參數(shù)測(cè)定方法45
2.6.2測(cè)得值與公差極限值相比較的規(guī)則45
2.6.3參數(shù)評(píng)定的規(guī)則46
2.6.4觸針式儀器檢驗(yàn)的規(guī)則和方法47
2.6.5粗糙度檢驗(yàn)的簡(jiǎn)化程序49
第3章 復(fù)合加工表面輪廓的高度特性表征圖解51
3.1濾波和一般測(cè)量條件52
3.1.1一般測(cè)量條件52
3.1.2確定粗糙度輪廓的濾波過(guò)程52
3.1.3截止波長(zhǎng)λc與評(píng)定長(zhǎng)度ln的選擇53
3.2用線性化的支承率曲線表征高度特性53
3.2.1支承率曲線的區(qū)域54
3.2.2評(píng)定參數(shù)的計(jì)算54
3.2.2.1等效線的計(jì)算54
3.2.2.2Rk、Mr1、Mr2的計(jì)算54
3.2.2.3Rpk和Rvk的計(jì)算55
3.3用概率支承率曲線表征高度特性55
3.3.1概率支承率曲線及評(píng)定參數(shù)55
3.3.1.1概率支承率曲線55
3.3.1.2評(píng)定參數(shù)55
3.3.2參數(shù)測(cè)量過(guò)程要求55
3.3.3評(píng)定參數(shù)的計(jì)算過(guò)程56
3.3.3.1初始二次曲線擬合56
3.3.3.2確定線性塬區(qū)上邊界UPL和谷區(qū)下邊界LVL57
3.3.3.3有界區(qū)域的歸一化57
3.3.3.4第二次二次曲線擬合58
3.3.3.5第二次確定線性塬區(qū)下邊界LPL和谷區(qū)上邊界UVL59
3.3.3.6Rpq、Rvq和Rmq參數(shù)計(jì)算59
第4章 表面結(jié)構(gòu)區(qū)域法的參數(shù)及表示法圖解60
4.1表面結(jié)構(gòu)區(qū)域法的術(shù)語(yǔ)及評(píng)定參數(shù)61
4.1.1通用術(shù)語(yǔ)及定義62
4.1.2幾何參數(shù)術(shù)語(yǔ)64
4.1.3幾何特征術(shù)語(yǔ)65
4.1.4區(qū)域參數(shù)定義67
4.1.4.1高度參數(shù)67
4.1.4.2空間參數(shù)和混合參數(shù)68
4.1.4.3功能參數(shù)70
4.1.4.4復(fù)合加工表面的區(qū)域參數(shù)72
4.1.4.5分形法參數(shù)74
4.1.5特征參數(shù)75
4.1.6復(fù)合加工表面區(qū)域參數(shù)的計(jì)算77
4.1.6.1Sk、Smr1、Smr2的計(jì)算77
4.1.6.2等效直線的計(jì)算77
4.1.6.3Spk和Svk的計(jì)算77
4.1.6.4Spq、Svq和Smq的計(jì)算77
4.1.7表面結(jié)構(gòu)特征的表征78
4.1.7.1選擇結(jié)構(gòu)特征類(lèi)型78
4.1.7.2區(qū)域分割79
4.1.7.3確定重要特征79
4.1.7.4特征屬性的分割81
4.1.7.5屬性統(tǒng)計(jì)81
4.1.7.6特征表征約定81
4.1.8分水嶺分割82
4.1.8.1分水嶺分割概述82
4.1.8.2變換樹(shù)82
4.1.8.3區(qū)域合并83
4.1.8.4用沃爾夫修剪法進(jìn)行分水嶺分割83
4.1.8.5沃爾夫修剪示例84
4.1.9用分形幾何表征區(qū)域表面86
4.1.9.1什么是分形86
4.1.9.2變分法86
4.1.9.3應(yīng)用于尺度限定表面的變分法87
4.1.9.4相對(duì)面積分析87
4.2表面結(jié)構(gòu)區(qū)域法的表示法89
4.2.1標(biāo)注區(qū)域表面結(jié)構(gòu)的圖形符號(hào)89
4.2.2區(qū)域表面結(jié)構(gòu)的完整圖形符號(hào)90
4.2.3區(qū)域表面結(jié)構(gòu)的標(biāo)注規(guī)則90
4.2.4區(qū)域表面結(jié)構(gòu)的標(biāo)注示例93
4.2.5區(qū)域表面結(jié)構(gòu)的ISO特殊規(guī)范元素95
4.3表面結(jié)構(gòu)區(qū)域法的規(guī)范操作集97
4.3.1完整規(guī)范操作集97
4.3.2完整規(guī)范操作集的決策樹(shù)101
4.3.3區(qū)域表面結(jié)構(gòu)參數(shù)的默認(rèn)特征值101
4.3.4區(qū)域表面結(jié)構(gòu)參數(shù)的默認(rèn)單位102
4.4表面結(jié)構(gòu)區(qū)域法與表面結(jié)構(gòu)輪廓法的差異103
第5章 表面結(jié)構(gòu)的測(cè)量方法及測(cè)量標(biāo)準(zhǔn)圖解105
5.1表面結(jié)構(gòu)的測(cè)量方法106
5.1.1表面結(jié)構(gòu)測(cè)量方法分類(lèi)106
5.1.1.1線輪廓法106
5.1.1.2區(qū)域形貌法106
5.1.1.3區(qū)域整體法107
5.1.2表面結(jié)構(gòu)的測(cè)量方法107
5.1.2.1比較法107
5.1.2.2接觸觸針掃描法108
5.1.2.3共聚焦色差顯微法109
5.1.2.4相移干涉顯微法109
5.1.2.5相干掃描干涉法110
5.1.2.6點(diǎn)自動(dòng)對(duì)焦輪廓法111
5.1.2.7變焦顯微法112
5.1.2.8共聚焦顯微法113
5.1.2.9結(jié)構(gòu)光投影法115
5.1.3測(cè)量方法比較116
5.2參數(shù)測(cè)量的通用術(shù)語(yǔ)117
5.3儀器的標(biāo)稱(chēng)特性119
5.3.1輪廓法接觸式儀器的標(biāo)稱(chēng)特性119
5.3.1.1觸針式儀器的基本功能單元119
5.3.1.2儀器特性的標(biāo)稱(chēng)值121
5.3.1.3符合GB/T 6062的儀器121
5.3.2區(qū)域法接觸（觸針）式儀器的標(biāo)稱(chēng)特性121
5.3.2.1計(jì)量特性122
5.3.2.2區(qū)域法表面結(jié)構(gòu)橫向掃描系統(tǒng)的不同配置124
5.3.2.3典型測(cè)量方法124
5.4儀