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相變晶體學(xué)基礎(chǔ)與實(shí)踐

相變晶體學(xué)基礎(chǔ)與實(shí)踐

定 價(jià):¥99.00

作 者: 張文征 葉飛 顧新福 等
出版社: 高等教育出版社
叢編項(xiàng):
標(biāo) 簽: 暫缺

ISBN: 9787040589429 出版時(shí)間: 2023-01-01 包裝: 精裝
開本: 頁(yè)數(shù): 字?jǐn)?shù):  

內(nèi)容簡(jiǎn)介

  相變晶體學(xué)是定量理解兩相晶體的位向關(guān)系、相變產(chǎn)物形貌、相界面法向、相界面微觀結(jié)構(gòu)以及相變引起的應(yīng)變場(chǎng)等晶體學(xué)特征的重要手段。相變晶體學(xué)特征還與相變熱力學(xué)、相變動(dòng)力學(xué)、新相周圍的約束以及界面成分等因素密切相關(guān)。因此,相變晶體學(xué)對(duì)深入理解材料組織形成,進(jìn)而科學(xué)地預(yù)測(cè)和控制材料組織生長(zhǎng)和特性具有重要的指導(dǎo)意義。本書將相界面作為分析相變晶體學(xué)的關(guān)鍵抓手,系統(tǒng)地介紹了相變晶體學(xué)的基礎(chǔ)知識(shí)和分析方法,闡述中注重相關(guān)知識(shí)點(diǎn)的物理意義和實(shí)際應(yīng)用過(guò)程的具體操作步驟。主要內(nèi)容包括:界面幾何學(xué)和數(shù)學(xué)描述、相變晶體學(xué)的表征方法、界面結(jié)構(gòu)的定量分析方法和模型、界面結(jié)構(gòu)的模擬與預(yù)測(cè)等。本書可供物理、化學(xué)、材料、機(jī)械和電子等領(lǐng)域的科研人員以及高等院校的高年級(jí)本科生和研究生閱讀和參考。

作者簡(jiǎn)介

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