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微光像增強器測試技術

微光像增強器測試技術

定 價:¥84.00

作 者: 邱亞峰 著
出版社: 北京理工大學出版社
叢編項:
標 簽: 暫缺

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ISBN: 9787576307597 出版時間: 2021-12-01 包裝: 平裝
開本: 16開 頁數(shù): 256 字數(shù):  

內(nèi)容簡介

  本書是一部論述微光像增強器測試技術的專著,是作者承擔國家科研項目的總結。全書共9章,介紹微光像增強器測試技術理論和技術的基礎研究,包含熱電子面發(fā)射源、積分球漫反射均勻性、真空系統(tǒng)設計的研究;系統(tǒng)闡述像增強器零部件測試技術,包含微通道板MCP、熒光屏的參數(shù)測試研究;介紹了微光像增強器噪聲因子、噪聲特性測試的關鍵技術及研制設備;介紹微光像增強器信噪比、分辨力、亮度增益的測試原理及測試設備的研制;介紹了紫外成像系統(tǒng)關鍵參數(shù)的測試技術及設備的研制;最后針對低照度CMOS器件展開了夜視手持式、頭盔式的應用研究,給出原理樣機。本書可作為大專院校和本科院校光學工程、電子科學與技術和光信息科學與技術等專業(yè)的教學用書,可供從事微光器件設計與應用的有關科技人員參考。

作者簡介

暫缺《微光像增強器測試技術》作者簡介

圖書目錄

第1章 測試基礎
1.1 熱電子面發(fā)射源的研究
1.1.1 熱電子面發(fā)射源的理論分析
1.1.2 熱電子面發(fā)射源電場分布和電子軌跡計算
1.2 熱電子面發(fā)射源的結構設計
1.3 熱電子面發(fā)射源調(diào)試試驗
1.3.1 熱電子面發(fā)射源的性能試驗及分析
1.3.2 熱電子面發(fā)射源與其他熱電子發(fā)射源的比較
1.4 新型熱電子面發(fā)射源的研究
1.4.1 傳統(tǒng)熱電子面發(fā)射源與新型熱電子面發(fā)射源分析
1.4.2 新型熱電子面發(fā)射源測試試驗
1.4.3 已設計的熱電子面發(fā)射源樣機
1.5 漫反射原理及積分球的研究
1.5.1 漫反射原理及漫反射材料性質(zhì)
1.5.2 理想積分球研究
1.5.3 積分球出光孔照度衰減的研究
1.5.4 積分球出光孔照度標定方法的研究
1.5.5 積分球設計
1.6 真空系統(tǒng)的調(diào)試與測試試驗
1.6.1 真空系統(tǒng)的烘烤除氣處理與真空度調(diào)試
1.6.2 真空系統(tǒng)的漏率測試計算
1.6.3 真空系統(tǒng)空/負載性能研究
第2章 像增強器零部件測試技術
2.1 MCP電子清刷測試理論研究
2.1.1 MCP的工作原理
2.1.2 MCP電子清刷測試理論
2.2 電子清刷測試系統(tǒng)的性能指標與總體方案設計
2.2.1 系統(tǒng)的設計要求與性能指標
2.2.2 系統(tǒng)方案總體設計
2.3 MCP電阻與增益的測試及結果分析
2.3.1 高溫烘烤對MCP體電阻的影響測試研究
2.3.2 電子清刷對MCP增益的影響測試研究
2.4 熒光屏發(fā)光特性研究
2.4.1 固體發(fā)光及表征發(fā)光特性的物理量
2.4.2 陰極射線致發(fā)光
2.5 像增強器熒光屏綜合參數(shù)測試系統(tǒng)的研究
2.5.1 熒光屏綜合參數(shù)測試系統(tǒng)的設計理論
2.5.2 熒光屏綜合參數(shù)測試系統(tǒng)的測試原理
2.5.3 熒光屏綜合參數(shù)測試系統(tǒng)的理論設計
2.5.4 表征熒光屏性能的主要參數(shù)的定義及測試方法
2.6 熒光屏4種參數(shù)測試的結構設計及保障
2.6.1 熒光屏均勻性和發(fā)光亮度測試的結構設計及保障
2.6.2 熒光屏發(fā)光效率測試的結構設計及保障
2.6.3 熒光屏發(fā)光余輝測試的結構設計及保障
2.7 熒光屏綜合參數(shù)測試系統(tǒng)總成
2.7.1 熒光屏綜合參數(shù)測試系統(tǒng)的組成
2.7.2 熒光屏綜合參數(shù)測試系統(tǒng)的控制模塊
2.7.3 熒光屏綜合參數(shù)測試系統(tǒng)性能指標
第3章 像增強器噪聲因子測試技術
3.1 微光像增強器噪聲因子理論
3.2 噪聲特性測試系統(tǒng)總體設計
3.3 MCP與熒光屏組件噪聲特性測試原理及方法
3.4 MCP與熒光屏組件噪聲特性測試系統(tǒng)調(diào)試與結果分析
3.4.1 真空系統(tǒng)測試
3.4.2 MCP與熒光屏組件噪聲特性測試及結果分析
第4章 像增強器信噪比測試技術
4.1 像增強器信噪比測試原理
4.1.1 像增強器信噪比測試理論
4.1.2 像增強器信噪比測試標準
4.1.3 微光像增強器的性能參數(shù)
4.2 像增強器信噪比測試儀的總體結構
4.2.1 信噪比測試儀的光學結構分析
4.2.2 信噪比測試儀的功能要求
4.2.3 信噪比測試儀的設計實現(xiàn)
4.3 像增強器信噪比參數(shù)測試及分析
第5章 像增強器分辨力測試技術
5.1 像增強器分辨力測試原理
5.2 靶標選擇
5.3 分辨力測試設計
5.3.1 紅外分辨力測試設計
5.3.2 紫外分辨力測試設計
5.3.3 微光分辨力理論研究
5.3.4 微光分辨力測試設計
第6章 像增強器亮度增益測試技術
6.1 像增強器亮度增益測試原理
6.1.1 亮度增益的測試原理
6.1.2 等效背景的測試原理
6.2 亮度增益測試系統(tǒng)設計
6.3 亮度增益測試結果分析
6.4 像增強器綜合參數(shù)測試儀研制
6.4.1 微光像增強器信噪比測試子系統(tǒng)
6.4.2 微光像增強器亮度增益測試子系統(tǒng)
6.4.3 微光像增強器鑒別率測試子系統(tǒng)
6.4.4 研制結果
第7章 像增強器發(fā)光均勻性測試技術
7.1 均勻性測試儀系統(tǒng)設計的理論研究
7.2 多型號微光像增強器成像均勻性測試儀系統(tǒng)設計
7.2.1 均勻性測試儀技術指標要求
7.2.2 均勻性測試儀總體設計方案
7.3 多型號微光像增強器成像均勻性測試儀實驗驗證與分析
7.3.1 積分球出光孔照度標定實驗
7.3.2 積分球出光孔照度衰減干擾因子驗證實驗
7.3.3 微光像增強器成像均勻性測試儀標定及產(chǎn)品測試實驗
第8章 紫外成像光電系統(tǒng)性能測試裝置
8.1 研究目標
8.2 系統(tǒng)要求
8.2.1 功能要求
8.2.2 性能指標
8.3 紫外器件綜合性能測試儀
8.3.1 紫外器件性能參數(shù)測試原理
8.3.2 紫外器件綜合性能測試儀具體設計方案
8.4 紫外光學系統(tǒng)焦距測量儀
8.4.1 紫外光學系統(tǒng)焦距測量原理
8.4.2 紫外光學系統(tǒng)焦距測量儀功能組成及設計方案
8.5 紫外光學系統(tǒng)透射比測試儀
8.5.1 紫外光學系統(tǒng)透射比測試儀功能組成
8.5.2 紫外光學系統(tǒng)透射比測試儀設計方案
8.6 設備實際達到的技術指標
8.6.1 紫外

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