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當(dāng)前位置: 首頁出版圖書科學(xué)技術(shù)工業(yè)技術(shù)無線電電子學(xué)、電信技術(shù)實用CMOS模擬電路:RF電路設(shè)計

實用CMOS模擬電路:RF電路設(shè)計

實用CMOS模擬電路:RF電路設(shè)計

定 價:¥58.00

作 者: [日] 三木拓司,[日] 道正志郎 著,蔣萌 譯
出版社: 科學(xué)出版社
叢編項:
標(biāo) 簽: 暫缺

ISBN: 9787030727596 出版時間: 2022-09-01 包裝: 平裝
開本: 16開 頁數(shù): 166 字?jǐn)?shù):  

內(nèi)容簡介

  《實用CMOS模擬電路/RF電路設(shè)計》列舉了諸多真實產(chǎn)品的電路設(shè)計案例,內(nèi)容包括模擬濾波器的設(shè)計方法、低噪聲放大器的設(shè)計方法、混頻器的設(shè)計方法、基準(zhǔn)電路的設(shè)計方法、鎖相環(huán)的設(shè)計方法、逐次比較型AD轉(zhuǎn)換器的設(shè)計方法、ΔΣ型AD轉(zhuǎn)換器的設(shè)計方法等。《實用CMOS模擬電路/RF電路設(shè)計》使用大量圖表詳盡介紹實際設(shè)計時的關(guān)鍵思路、方法和注意事項,讀者可以在有限的開發(fā)時間內(nèi)掌握所需技能和實戰(zhàn)經(jīng)驗。

作者簡介

暫缺《實用CMOS模擬電路:RF電路設(shè)計》作者簡介

圖書目錄

目錄
第1章 緒論 1
1.1 組成CMOS模擬電路/RF集成電路的單元電路 3
1.2 無線通信方式的變遷 4
第2章 什么是模擬電路 11
2.1 模擬電路和線性電路 13
2.2 模擬電路的固有振蕩和實時響應(yīng) 17
2.3 模擬電路中產(chǎn)生的噪聲 21
2.3.1 *大有效功率和有效功率噪聲 21
2.3.2 噪聲系數(shù) 22
2.4 模擬電路的仿真方式 24
2.4.1 DC分析 24
2.4.2 AC分析 24
2.4.3 噪聲分析 24
2.4.4 瞬態(tài)分析 24
2.4.5 PSS、噪聲、PAC分析 25
第3章 什么是高頻電路 27
3.1 高頻電路和模擬電路的不同 29
3.2 S參數(shù)和反射系數(shù) 30
3.3 反射系數(shù)和史密斯圓圖 32
3.4 阻抗圓圖和導(dǎo)納圓圖 35
3.5 阻抗匹配 36
3.6 二端口電路的穩(wěn)定性 40
3.7 二端口電路的增益 46
第4章 模擬濾波器的設(shè)計方法 49
4.1 模擬濾波器的傳遞函數(shù) 51
4.2 模擬濾波器的實現(xiàn)方法 52
4.2.1 二階、一階濾波器的級聯(lián)連接設(shè)計方法 53
4.2.2 梯型濾波器設(shè)計方法 55
4.2.3 濾波器設(shè)計方法的優(yōu)缺點 57
4.3 開關(guān)電容電路構(gòu)成濾波器的方法 58
第5章 低噪聲放大器的設(shè)計方法 61
5.1 二端口電路的噪聲系數(shù)展示 63
5.2 LNA的種類和噪聲系數(shù) 64
5.3 LNA的設(shè)計步驟 66
第6章 混頻器的設(shè)計方法 69
6.1 混頻器的結(jié)構(gòu) 71
6.2 混頻器的噪聲源 74
第7章 基準(zhǔn)電路的設(shè)計方法 77
7.1 基準(zhǔn)電壓電路 79
7.2 基準(zhǔn)電流電路 81
7.3 基準(zhǔn)電壓電路的雙穩(wěn)態(tài)問題的解決方法 83
7.4 PTAT電流源電路 84
7.5 晶體振蕩器及其頻率穩(wěn)定原理 84
7.6 晶體振蕩器的振蕩條件的導(dǎo)出 86
第8章 鎖相環(huán)的設(shè)計方法 89
8.1 PLL模塊及其結(jié)構(gòu) 91
8.1.1 鑒頻鑒相器 91
8.1.2 電荷泵電路 93
8.1.3 環(huán)路濾波器 95
8.1.4 VCO 97
8.1.5 分頻器 98
8.2 PLL的傳遞函數(shù) 99
8.2.1 輸入相位變化對輸出相位特性的計算 101
8.2.2 輸入相位變化對相位誤差特性的計算 102
8.2.3 輸入頻率變化對相位誤差特性的計算 103
8.3 PLL的傳遞函數(shù)*優(yōu)化 103
8.3.1 二階環(huán)路濾波器的*優(yōu)化 104
8.3.2 三階環(huán)路濾波器的*優(yōu)化 105
8.3.3 環(huán)路帶寬的*優(yōu)化 106
8.4 PLL的抖動特性 108
第9章 AD轉(zhuǎn)換器 111
9.1 AD轉(zhuǎn)換器的性能 113
9.2 AD轉(zhuǎn)換器的種類 114
9.3 AD轉(zhuǎn)換器的噪聲 116
9.3.1 量化噪聲 116
9.3.2 熱噪聲 117
9.3.3 采樣抖動的影響 118
9.3.4 過采樣帶來的SN改善 120
第10章 逐次比較型AD轉(zhuǎn)換器的設(shè)計方法 123
10.1 逐次比較型AD轉(zhuǎn)換器的概要 125
10.2 電容DAC的設(shè)計方法 126
10.3 采樣開關(guān)的設(shè)計方法 129
10.4 比較器的設(shè)計方法 132
10.4.1 比較器的*優(yōu)化設(shè)計 132
10.4.2 比較器的噪聲仿真 136
10.5 逐次比較邏輯電路的設(shè)計方法 137
10.6 校正方式 138
10.6.1 串聯(lián)電容的校正方式 139
10.6.2 利用冗余電容的矯正方式 140
10.7 逐次比較型AD轉(zhuǎn)換器的仿真 141
10.8 逐次比較型AD轉(zhuǎn)換器的發(fā)展 144
10.8.1 時間交替技術(shù)帶來高速化 144
10.8.2 噪聲整形型逐次比較技術(shù)帶來的高分辨率化 145
第11章 ΔΣ型AD轉(zhuǎn)換器的設(shè)計方法 147
11.1 ΔΣ調(diào)制的原理 149
11.1.1 量化噪聲的分布 149
11.1.2 非理想因素 150
11.2 ΔΣ調(diào)制的結(jié)構(gòu) 151
11.2.1 離散時間型開關(guān)電容積分器 151
11.2.2 多重FB型結(jié)構(gòu) 152
11.2.3 多重FF型結(jié)構(gòu) 153
11.2.4 低失真FF型結(jié)構(gòu) 154
11.2.5 MASH結(jié)構(gòu) 155
11.3 離散型和連續(xù)時間型 156
11.3.1 ΔΣ調(diào)制器的穩(wěn)定性 156
11.3.2 傳遞函數(shù)設(shè)計 157
11.3.3 連續(xù)時間型ΔΣ調(diào)制器 160
參考文獻(xiàn) 165

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