現代工業(yè)制造過程質量控制優(yōu)化設計

定　價：￥68.00

作　者：	王海宇等著
出版社：	化學工業(yè)出版社
叢編項：
標　簽：	暫缺

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ISBN：	9787122401762	出版時間：	2022-03-01	包裝：	平裝
開本：	16開	頁數：	156	字數：

內容簡介

　　《現代工業(yè)制造過程質量控制優(yōu)化設計》從波動理論出發(fā)，以過程為基礎，以實證和仿真為手段，系統地研究了具有各種不同質量特性的產品在其實現過程中，減小和控制波動的理論、方法和實現技術?！冬F代工業(yè)制造過程質量控制優(yōu)化設計》從理論和應用兩個角度為實時監(jiān)控生產系統提供了切實可行的實現技術。在多變量、自相關、非正態(tài)等多種過程由于生產制造技術和加工方式的變革發(fā)生變化的背景下，《現代工業(yè)制造過程質量控制優(yōu)化設計》分別提出了統計過程控制的改進方法，以滿足使用要求并進一步提高對過程異常波動的監(jiān)控能力，對工業(yè)企業(yè)提高過程質量，增強企業(yè)的市場競爭力具有重要價值。

作者簡介

　　王海宇，博士，教授，鄭州大學特聘教授，美國質量協會ASQ senior會員。主要研究方向：質量管理、工業(yè)工程。畢業(yè)于西北工業(yè)大學管理科學與工程專業(yè)，獲博士學位。從2000年至今一直從事質量管理領域研究、教學和管理咨詢工作。先后主持和參與完成8項國家科學基金項目、4項航空部基金項目的研究工作，近年來在國內外核心期刊和國際會議發(fā)表論文40 余篇。

圖書目錄

第1 章緒論1
1.1 過程與波動 2
1.2 統計過程控制(SPC) 3
1.3 控制圖的性能度量 5
1.3.1 平均運行長度(ARL) 5
1.3.2 平均產品長度(APL) 7

第2 章統計質量控制理論概述9
2.1 波動理論 10
2.2 統計質量控制的用途和應用原則 10
2.3 質量數據的取得與整理 11
2.4 統計質量控制的統計推斷 13
2.4.1 數據特征值 14
2.4.2 常用的概率分布 15
2.5 控制圖方法 17
2.5.1 控制圖的基本形式 17
2.5.2 控制圖的原理 18
2.5.3 控制圖的作用 20
2.5.4 控制圖的分類 21
2.5.5 控制圖的應用程序與作法 23
2.5.6 控制圖的觀測與分析 33
2.6 過程監(jiān)控技術的研究現狀 36
2.6.1 正態(tài)過程監(jiān)控 36
2.6.2 非正態(tài)過程監(jiān)控 37
2.6.3 小波動過程監(jiān)控 38
2.6.4 多元過程監(jiān)控 39
2.6.5 自相關過程監(jiān)控 42

第3 章休哈特常規(guī)控制圖的優(yōu)化設計方法45
3.1 休哈特控制圖的設計思想 45
3.2 基于APL的休哈特控制圖的設計 45
3.3 靈敏度分析 47
3.3.1 均值變化的靈敏度分析 47
3.3.2 方差變化的靈敏度分析 51
3.3.3 均值方差都改變的靈敏度分析 53
3.4 監(jiān)控效率比對 57
3.5 指數加權移動平均(EWMA) 控制圖 59
3.6 EWMA圖的優(yōu)化設計 61
3.6.1 平均產品長度的計算 62
3.6.2 最佳參數的選擇 64
3.6.3 設計效果比較 68
3.7 改進的EWMA圖的使用 69

第4 章偏態(tài)過程下控制圖的改進優(yōu)化設計71
4.1 賦權方差(WV) 方法 71
4.2 非對稱休哈特圖的優(yōu)化設計 73
4.2.1 控制方案的設計 73
4.2.2 靈敏度分析 76
4.2.3 偏態(tài)休哈特圖最優(yōu)設計與一般方法的比較 80
4.2.4 偏態(tài)情況最優(yōu)設計的使用 80
4.3 偏態(tài)過程的EWMA圖 81
4.3.1 偏態(tài)EWMA圖的構造 82
4.3.2 平均運行長度的計算方法 82
4.3.3 偏態(tài)EWMA圖的設計 84
4.3.4 監(jiān)控效果比較 86

第5 章多個變量同時監(jiān)控的控制圖改進設計88
5.1 HotellingT2 圖 88
5.2 小波動控制圖 89
5.2.1 MCUSUM圖 89
5.2.2 MEWMA圖 90
5.3 改變報警規(guī)則的多變量控制圖 92
5.3.1 平均運行長度的計算 93
5.3.2 使用案例 96
5.4 效率分析與比較 97
5.5 基于虛擬元回歸的失控信號診斷 99
5.5.1 二元質量控制的診斷方法 99
5.5.2 多元質量控制的診斷 101
5.5.3 一個二元質量控制的診斷算例 101
5.5.4 診斷方法比較 103

第6 章存在自相關特性的過程控制圖改進設計106
6.1 時間序列擬合模型 106
6.1.1 AR模型 106
6.1.2 MA模型 107
6.1.3 ARMA模型 108
6.1.4 模型識別和參數估計 108
6.2 用殘差消除過程自相關 109
6.3 EWMA殘差控制圖 111
6.3.1 過程均值的EWMA殘差圖 111
6.3.2 過程方差的EWMA殘差圖 111
6.3.3 EWMA殘差控制圖的應用 112
6.3.4 幾種殘差控制圖的比較 114

第7 章時變過程下的控制圖改進116
7.1 時變離散過程下的質量控制 116
7.2 基于離散BP神經網絡的時變過程質量控制 118
7.2.1 離散BP神經網絡改善法 118
7.2.2 離散時變過程質量控制模型 120
7.2.3 質量監(jiān)控模擬實驗 121
7.3 時變連續(xù)過程的SPC/APC整合策略 127
7.3.1 MMSE調整后的監(jiān)控 128
7.3.2 PI調整后的監(jiān)控 129
7.3.3 監(jiān)控效率分析 131
7.3.4 算例 133
7.4 帶有延遲的時變連續(xù)過程的質量控制 136
7.4.1 多重延遲自動反饋控制的監(jiān)控模型 136
7.4.2 反饋調整后的統計過程監(jiān)控 137
7.4.3 算例分析 141

第8 章總結與展望144
8.1 研究總結 144
8.2 創(chuàng)新點 145
8.3 研究展望 146

參考文獻147