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電力設(shè)備X射線檢測(cè)技術(shù)

電力設(shè)備X射線檢測(cè)技術(shù)

定 價(jià):¥68.00

作 者: 蔡曉斌,于虹,劉榮海 編
出版社: 化學(xué)工業(yè)出版社
叢編項(xiàng):
標(biāo) 簽: 電工基礎(chǔ)理論 電工技術(shù) 工業(yè)技術(shù)

ISBN: 9787122386168 出版時(shí)間: 2021-06-01 包裝: 平裝
開本: 16開 頁(yè)數(shù): 260 字?jǐn)?shù):  

內(nèi)容簡(jiǎn)介

  本書系統(tǒng)地闡述了X射線產(chǎn)生的原理、電力設(shè)備X射線現(xiàn)場(chǎng)檢測(cè)方法、現(xiàn)場(chǎng)安全防護(hù)等內(nèi)容。具體內(nèi)容包括X射線檢測(cè)基礎(chǔ)、X射線檢測(cè)的安全性分析、X射線數(shù)字成像透視檢測(cè)系統(tǒng)對(duì)電力設(shè)備典型缺陷適用性、X射線高質(zhì)量圖像獲取與智能化圖像處理技術(shù)、人員和系統(tǒng)防護(hù)措施的研究,最后通過典型案例的細(xì)致分析,介紹了X射線數(shù)字成像檢測(cè)技術(shù)在電力設(shè)備故障診斷中的應(yīng)用,對(duì)讀者今后工作中的故障診斷具有指導(dǎo)作用。 本書可供電網(wǎng)設(shè)備運(yùn)行檢修人員、帶電檢測(cè)人員、科研人員工作使用,也可供高校相關(guān)專業(yè)師生學(xué)習(xí)參考。

作者簡(jiǎn)介

暫缺《電力設(shè)備X射線檢測(cè)技術(shù)》作者簡(jiǎn)介

圖書目錄

第1章射線檢測(cè)基礎(chǔ) / 001
1.1射線檢測(cè)的特點(diǎn)、應(yīng)用及發(fā)展趨勢(shì)001
1.1.1射線檢測(cè)的特點(diǎn)001
1.1.2射線檢測(cè)的應(yīng)用001
1.1.3射線檢測(cè)發(fā)展趨勢(shì)002
1.2射線源及其特性003
1.2.1什么是射線003
1.2.2X射線的產(chǎn)生及其性質(zhì)004
1.2.3X射線透過物質(zhì)時(shí)的衰減007
1.3射線檢測(cè)方法011
1.3.1射線檢測(cè)靈敏度011
1.3.2影響靈敏度的有關(guān)因素015
1.3.3射線檢測(cè)方法的近期發(fā)展018
參考文獻(xiàn)024

第2章X射線檢測(cè)基礎(chǔ) / 025
2.1X射線機(jī)025
2.1.1X射線檢測(cè)的特點(diǎn)025
2.1.2X射線機(jī)的基本組成026
2.1.3X射線機(jī)的工作過程030
2.1.4X射線機(jī)的技術(shù)性能031
2.1.5X射線機(jī)的常見故障與維護(hù)034
2.2X射線探測(cè)器036
2.2.1膠片037
2.2.2熒光屏037
2.2.3圖像增強(qiáng)器038
2.2.4線性二極管陣列041
2.2.5影像板042
2.2.6平板探測(cè)器043
2.2.7CMOS線性陣列045
2.3常用X射線檢測(cè)系統(tǒng)046
2.3.1熒光透視成像系統(tǒng)046
2.3.2膠片成像系統(tǒng)046
2.3.3CR成像系統(tǒng)046
2.3.4DR成像系統(tǒng)048
2.3.5CT成像系統(tǒng)049
2.4針對(duì)GIS 設(shè)備射線檢測(cè)的設(shè)備選擇054
2.4.1射線源的選取054
2.4.2數(shù)字成像系統(tǒng)及成像方式的選取055
參考文獻(xiàn)056

第3章X射線檢測(cè)的安全性分析 / 058
3.1概述058
3.2X射線對(duì)電力設(shè)備固體絕緣材料的影響058
3.3X射線對(duì)電力設(shè)備絕緣油的影響060
3.3.1帶電情況下X射線對(duì)絕緣油的影響060
3.3.2不帶電情況下X射線對(duì)絕緣油的影響062
3.3.3X射線照射下對(duì)絕緣油起暈電壓的影響066
3.4X射線對(duì)電力設(shè)備SF6氣體影響的研究074
3.4.1不帶電情況下X射線對(duì)SF6氣體的影響074
3.4.2帶電情況下X射線對(duì)SF6氣體的影響076
參考文獻(xiàn)082

第4章X射線數(shù)字成像透視檢測(cè)系統(tǒng)對(duì)電力設(shè)備典型缺陷適用性 / 083
4.1GIS設(shè)備典型缺陷概述083
4.2GIS設(shè)備內(nèi)異物缺陷084
4.2.1工具異物缺陷084
4.2.2紙巾與棉紗缺陷086
4.2.3絕緣漆脫落缺陷087
4.2.4金屬裝配件缺陷089
4.2.5干燥劑散落缺陷090
4.3GIS設(shè)備開關(guān)合閘缺陷092
4.3.1隔離開關(guān)合閘不到位缺陷092
4.3.2隔離開關(guān)分閘不到位缺陷094
4.3.3導(dǎo)電桿未插到位缺陷095
4.3.4接地開關(guān)分閘不到位缺陷096
4.3.5接地開關(guān)合閘不到位缺陷097
4.4GIS設(shè)備部件松動(dòng)缺陷098
4.4.1螺栓松動(dòng)缺陷098
4.4.2屏蔽罩松動(dòng)缺陷099
4.4.3彈簧彈片沒有壓緊缺陷101
4.4.4彈簧松弛缺陷103
4.5GIS設(shè)備部件損壞缺陷104
4.5.1盆子裂紋缺陷104
4.5.2盆子劃痕缺陷105
4.5.3帶電導(dǎo)體尖端缺陷109
4.5.4金屬懸浮缺陷110
4.5.5均壓環(huán)劃傷缺陷111
4.5.6操作絕緣桿松脫缺陷113
4.5.7操作絕緣桿裂紋缺陷114
4.5.8操作絕緣桿氣泡缺陷115
4.6GIS設(shè)備金屬異物與臟污缺陷117
4.6.1銅金屬顆粒缺陷117
4.6.2鋁金屬顆粒缺陷117
4.6.3不銹鋼、鍍鋅顆粒缺陷120
4.6.4導(dǎo)電膏上的銅金屬顆粒缺陷121
4.6.5絕緣木屑缺陷122
4.6.6盆子臟污(金屬絲)缺陷123
4.6.7盆子臟污(銅屑)缺陷124
4.6.8盆子臟污(導(dǎo)電膏)缺陷125
4.6.9中心導(dǎo)體上的臟污(導(dǎo)電膏)缺陷126
參考文獻(xiàn)128

第5章X射線高質(zhì)量圖像獲取與智能化圖像處理技術(shù) / 129
5.1高質(zhì)量X射線圖像獲取技術(shù)129
5.1.1系統(tǒng)參數(shù)對(duì)X射線圖像質(zhì)量的影響129
5.1.2系統(tǒng)空間布置對(duì)成像質(zhì)量的影響130
5.1.3散射線對(duì)成像質(zhì)量的影響131
5.2X射線數(shù)字圖像增強(qiáng)技術(shù)的研究132
5.2.1直方圖均衡化132
5.2.2對(duì)比度受限自適應(yīng)直方圖均衡化算法132
5.2.3MSR增強(qiáng)原算法133
5.3X射線數(shù)字圖像拼接技術(shù)的研究137
5.3.1基準(zhǔn)圖像匹配區(qū)域?qū)ふ?38
5.3.2待拼接圖像最近拼接區(qū)域?qū)ふ?39
5.3.3基于SIFT的魯棒匹配方法139
5.3.4X射線拼接無縫拼接技術(shù)144
5.4X射線數(shù)字圖像去噪技術(shù)的研究149
5.5X射線數(shù)字圖像智能辨識(shí)技術(shù)的研究156
參考文獻(xiàn)159

第6章人員和系統(tǒng)防護(hù)措施的研究 / 160
6.1輻射量160
6.2輻射的生物效應(yīng)162
6.3屏蔽防護(hù)常用材料163
6.4輻射防護(hù)的基本方法165
6.5人員防護(hù)措施166
6.6成像板防護(hù)措施170
參考文獻(xiàn)172

第7章經(jīng)典工程案例分析 / 173
7.1云南開關(guān)廠110kV GIS設(shè)備的可視化檢測(cè)173
7.2南窯變110kV GIS設(shè)備的可視化檢測(cè)181
7.3郭家凹110kV GIS設(shè)備的可視化檢測(cè)188
7.4十里鋪110kV GIS設(shè)備的可視化檢測(cè)197
7.5六庫(kù)中心變110kV GIS設(shè)備的可視化檢測(cè)206
7.6金鐘變220kV GIS設(shè)備的可視化檢測(cè)223
7.7功果橋500kV GIS設(shè)備的可視化檢測(cè)229
7.8220kV罐式斷路器設(shè)備的可視化檢測(cè)237
7.9復(fù)合絕緣子的可視化檢測(cè)244
7.10射線數(shù)字成像透視檢測(cè)系統(tǒng)帶電測(cè)試253
參考文獻(xiàn)260

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