Wayne Nelson博士是加速試驗數(shù)據(jù)和可靠性統(tǒng)計分析領(lǐng)域主要的專家之一。他目前擔任多家公司的顧問,針對統(tǒng)計方法的不同工程和科研應(yīng)用為企業(yè)提供咨詢,開發(fā)了新的統(tǒng)計方法和計算機程序。Nelson博士為企業(yè)、高校和專業(yè)協(xié)會提供講學、培訓和研討;Nelson博士還是一名鑒定人,并曾在通用電氣公司研發(fā)部門從事應(yīng)用咨詢25年。鑒于他在可靠性、加速試驗方面的貢獻,Nelson博士被選為美國統(tǒng)計協(xié)會會員(1973)、美國質(zhì)量協(xié)會會員(1983)以及電氣與電子工程師學會(IEEE)會員(1988)。由于他在產(chǎn)品可靠性與加速試驗數(shù)據(jù)統(tǒng)計方法開發(fā)與應(yīng)用方面的突出貢獻,通用電氣公司研發(fā)部為他頒發(fā)了1981年度Dushman獎。美國質(zhì)量協(xié)會為表彰他杰出的技術(shù)領(lǐng)導與創(chuàng)新發(fā)展能力而授予他2003年度Shewhart獎。Nelson博士已發(fā)表統(tǒng)計方法方面的學術(shù)論文120余篇,其中大部分都是關(guān)于工程應(yīng)用的。由于發(fā)表的論文,他曾獲1969年度Brumbaugh獎、1970年度Youden獎和1972年度Wilcoxon獎,以及所有美國質(zhì)量協(xié)會的獎項。ASA為表彰他在國家聯(lián)合統(tǒng)計會議上發(fā)表的高水平論文,已經(jīng)授予他8次杰出表現(xiàn)獎。1990年,他獲得個NIST/ASA/NSF高級研究獎學金資助,在美國國家標準與技術(shù)研究所合作研究微電子的電遷移失效模型。2001年,受Fulbright獎資助,他在阿根廷從事可靠性數(shù)據(jù)分析的研究和講學工作。1982年,Nelson博士完成專著Applied Lfe Data Analysis的撰寫,并由Wiley出版社出版發(fā)行; 1988年該書由日本科學家和工程師聯(lián)合會翻譯成日語出版。1990年,Wiley出版社出版了他的標志性著作Accelerated Testing: Statistical Models, Test Plans, and Data Analyses。2003年,ASASIAM出版了他的著作Recurrent Events Data Analysis for Product Repairs, Disease Episodes, and Other Applications。他還參與了多本教科書和指導手冊的編寫,并為工程協(xié)會的標準建立做出了貢獻。