近代物理實驗

目 錄
前言
第1 章 原子分子物理 1
引言 1
1.1 電子衍射實驗 2
1.2 弗蘭克-赫茲實驗 21
1.3 塞曼效應 24
1.4 氫原子光譜 29
1.5 激光拉曼散射及拉曼光譜 41
1.6 黑體輻射 46
第2 章 核探測技術及應用 60
引言 60
2.1 蓋革-米勒計數(shù)器與核衰變的統(tǒng)計規(guī)律 60
2.2 NaI(Tl) 單晶γ閃爍譜儀實驗 68
2.3 符合測量 77
2.4 盧瑟福散射 87
2.5 康普頓散射 95
2.6 穆斯堡爾效應 101
2.7 用β粒子檢驗相對論的動量-動能關系 115
第3 章 真空與薄膜技術 126
引言 126
3.1 真空態(tài)的獲得與測量 126
3.2 真空鍍膜 133
3.3 氣體放電等離子體特性研究 139
第4 章 激光與光學 150
引言 150
4.1 He-Ne 激光器的模式分析與測量 151
4.2 半導體泵浦固體激光器的調Q與光學二倍頻 166
4.3 光電效應及普朗克常量的測定 170
4.4 磁光克爾效應 174
4.5 透射全息圖的拍攝 181
4.6 REL-RI03 光纖光譜儀應用綜合實驗 191
4.7 光電探測器特性測量實驗系統(tǒng) 203
第5 章 磁共振技術 212
引言 212
5.1 核磁共振 213
5.2 光磁共振 220
5.3 脈沖核磁共振 230
5.4 核磁共振成像 239
第6 章 磁學技術 247
引言 247
6.1 弱磁性物質磁化率的測量 249
6.2 法拉第效應實驗 253
6.3 法拉第效應法觀測磁晶各向異性 261
6.4 振動樣品磁強計測內稟磁性 266
第7 章 X 射線、電子衍射和結構分析 276
引言 276
7.1 利用X 射線衍射儀進行物相定性分析 278
7.2 掃描電子顯微鏡 280
7.3 掃描隧道顯微鏡實驗 289
第8 章 低溫與半導體物理實驗 303
引言 303
8.1 高臨界溫度超導體臨界溫度的電阻測量法 304
8.2 磁電阻效應 312
8.3 變溫霍爾效應 317
8.4 摻氮磷化鎵半導體材料的光致發(fā)光譜 326
第9 章 微波實驗 333
引言 333
9.1 體效應振蕩器的工作特性和波導管的工作狀態(tài) 348
9.2 用傳輸式諧振腔觀測鐵磁共振 356
9.3 電子自旋共振 365
第10 章 材料加工與分析 375
引言 375
10.1 材料的機械性質測試 375
10.2 金屬切削實驗 386
10.3 差熱-熱重分析實驗 400
10.4 金相顯微鏡 407
10.5 數(shù)字式顯微硬度計 413
附錄 425
附錄A 中華人民共和國法定計量單位 425
附錄B 常用物理常量 428
附錄C 歷屆諾貝爾物理學獎獲得者 429