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互換性與技術測量基礎

互換性與技術測量基礎

定　價：￥38.00

作　者： 王莉靜，郝龍，吳金文 著
出版社： 華中科技大學出版社
叢編項：
標　簽： 暫缺

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ISBN： 9787568059763 出版時間： 2020-05-01 包裝： 平裝
開本： 32開 頁數(shù)： 字數(shù)：  

內(nèi)容簡介

　　本書分為9章，主要包括我國公差與配合方面的最*標準，闡述了技術測量的基本原理，主要包括緒論，測量技術基礎，極限與配合，幾何公差，表面粗糙度及其評定，光滑工件尺寸的檢驗和光滑極限量規(guī)的設計，常用典型件的互換性，圓柱齒輪公差與檢測，尺寸鏈計算。

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