系統(tǒng)級(jí)封裝高速互連結(jié)構(gòu)信號(hào)完整性技術(shù)研究

第1章 緒論
1．1 系統(tǒng)級(jí)封裝技術(shù)的概念
1．2 系統(tǒng)級(jí)封裝的相關(guān)技術(shù)
1．3 系統(tǒng)級(jí)封裝技術(shù)應(yīng)用中面臨的信號(hào)完整性問題
1．4 系統(tǒng)級(jí)封裝互連結(jié)構(gòu)信號(hào)完整性研究的國(guó)內(nèi)外研究現(xiàn)狀
1．5 本書研究的意義與目的
第2章 系統(tǒng)級(jí)封裝倒裝芯片高速互連球柵陣列（BGA）焊點(diǎn)信號(hào)完整性研究
2．1 信號(hào)完整性
2．2 基于焊點(diǎn)形態(tài)的高速互連BGA焊點(diǎn)信號(hào)傳輸特性研究
2．3 基于自適應(yīng)遺傳神經(jīng)網(wǎng)絡(luò)的BGA焊點(diǎn)最佳信號(hào)傳輸性能形態(tài)參數(shù)優(yōu)化
2．4 基于焊點(diǎn)形態(tài)的高速互連BGA焊點(diǎn)信號(hào)串?dāng)_研究
第3章 系統(tǒng)級(jí)封裝過孔信號(hào)完整性分析
3．1 系統(tǒng)級(jí)封裝典型過孔信號(hào)完整性分析
3．2 三種系統(tǒng)級(jí)封裝過孔的建模及分析
3．3 系統(tǒng)級(jí)封裝典型組合過孔模型建模與分析
3．4 系統(tǒng)級(jí)封裝過孔信號(hào)完整性分析的正交實(shí)驗(yàn)設(shè)計(jì)
第4章 系統(tǒng)級(jí)封裝微帶線信號(hào)完整性研究
4．1 微帶線參數(shù)變化對(duì)傳輸性能影響研究
4．2 基于HFSS模型的微帶線串?dāng)_研究
4．3 基于HFSS模型的微帶線反射研究
第5章 基于全路徑的系統(tǒng)級(jí)封裝BGA焊點(diǎn)信號(hào)完整性分析
5．1 BGA互連的系統(tǒng)級(jí)封裝全路徑結(jié)構(gòu)及信號(hào)完整性分析
5．2 不同頻率下BGA互連的系統(tǒng)級(jí)封裝全路徑的表面電場(chǎng)
5．3 結(jié)構(gòu)參數(shù)變化對(duì)系統(tǒng)級(jí)封裝全路徑信號(hào)完整性影響分析
5．4 基于正交實(shí)驗(yàn)設(shè)計(jì)的BGA互連的系統(tǒng)級(jí)封裝全路徑信號(hào)完整性分析
第6章 基于主成分神經(jīng)網(wǎng)絡(luò)的完整傳輸路徑串?dāng)_分析
6．1 基于主成分分析的完整傳輸路徑串?dāng)_影響因素降維
6．2 基于帶動(dòng)量項(xiàng)改進(jìn)BP神經(jīng)網(wǎng)絡(luò)
6．3 基于完整傳輸路徑的串?dāng)_主成分分析神經(jīng)網(wǎng)絡(luò)建模
6．4 基于主成分分析神經(jīng)網(wǎng)絡(luò)的完整傳輸路徑串?dāng)_分析
第7章 實(shí)驗(yàn)驗(yàn)證
7．1 BGA焊點(diǎn)形態(tài)參數(shù)變化對(duì)信號(hào)完整性影響實(shí)驗(yàn)驗(yàn)證
7．2 微帶線參數(shù)變化對(duì)信號(hào)完整性影響實(shí)驗(yàn)驗(yàn)證
參考文獻(xiàn)