定 價(jià):¥49.80
作 者: | 馮利峰 |
出版社: | 電子工業(yè)出版社 |
叢編項(xiàng): | |
標(biāo) 簽: | 暫缺 |
ISBN: | 9787121295133 | 出版時(shí)間: | 2019-04-01 | 包裝: | 平裝 |
開(kāi)本: | 16開(kāi) | 頁(yè)數(shù): | 284 | 字?jǐn)?shù): |
第一章 可靠性基礎(chǔ)知識(shí) 1
第一節(jié) 可靠性基本概念 1
第二節(jié) 可靠性參數(shù)體系及可靠性常用分布 4
實(shí)踐練習(xí)一 7
第二章 元器件選擇技術(shù) 9
第一節(jié) 電子元器件的選擇與控制方法 9
第二節(jié) 電子元器件可靠性與質(zhì)量等級(jí) 11
第三節(jié) 電子元器件的選用要求與質(zhì)量標(biāo)記 23
第四節(jié) 電子元器件的選擇 24
實(shí)踐練習(xí)二 32
第三章 環(huán)境應(yīng)力篩選 34
第一節(jié) 環(huán)境應(yīng)力篩選的基本概念 34
第二節(jié) 環(huán)境應(yīng)力篩選的基本原理 38
第三節(jié) 環(huán)境應(yīng)力篩選方案設(shè)計(jì) 47
第四節(jié) 元器件環(huán)境應(yīng)力篩選的試驗(yàn)方法 55
實(shí)踐練習(xí)三 62
第四章 元器件失效分析 64
第一節(jié) 元器件的主要失效模式、失效機(jī)理和失效原因 64
第二節(jié) 元器件破壞性物理分析 75
第三節(jié) 電子元器件失效分析技術(shù) 78
第四節(jié) 假冒、翻新器件及電子元器件失效分析方法 80
實(shí)踐練習(xí)四 86
第五章 降額設(shè)計(jì)方法 87
第一節(jié) 降額設(shè)計(jì)的概念及一般要求 87
第二節(jié) 降額準(zhǔn)則及應(yīng)用 89
實(shí)踐練習(xí)五 116
第六章 熱設(shè)計(jì) 118
第一節(jié) 熱設(shè)計(jì)基礎(chǔ)知識(shí) 118
第二節(jié) 熱設(shè)計(jì)方法 133
第三節(jié) 散熱風(fēng)扇的基本定律及噪聲的評(píng)估 141
第四節(jié) 產(chǎn)品溫度控制標(biāo)準(zhǔn)及要求 142
實(shí)踐練習(xí)六 147
第七章 EMC設(shè)計(jì) 149
第一節(jié) EMC基本概念 149
第二節(jié) EMC元件 156
第三節(jié) EMC設(shè)計(jì)參考電路 177
第四節(jié) 產(chǎn)品內(nèi)部的 EMC 設(shè)計(jì)技巧 189
第五節(jié) 電磁干擾的屏蔽方法 191
實(shí)踐練習(xí)七 197
第八章 容差分析與設(shè)計(jì) 198
第一節(jié) 容差分析與設(shè)計(jì)基本概念 198
第二節(jié) 容差分析方法示例 201
實(shí)踐練習(xí)八 211
第九章 可靠性預(yù)計(jì) 212
第一節(jié) 可靠性預(yù)計(jì)基礎(chǔ)知識(shí) 212
第二節(jié) 元器件應(yīng)力分析可靠性預(yù)計(jì)法 217
第三節(jié) 電子電氣產(chǎn)品可靠性壽命預(yù)計(jì) 223
實(shí)踐練習(xí)九 228
第十章 電子元器件使用可靠性 230
第一節(jié) 集成電路的使用可靠性 230
第二節(jié) 晶體管和特種半導(dǎo)體器件的使用可靠性 239
第三節(jié) 電阻器、電容器、繼電器的使用可靠性問(wèn)題 243
實(shí)踐練習(xí)十 248
第十一章 可靠性試驗(yàn) 249
第一節(jié) 電子電氣產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 249
第二節(jié) 常用環(huán)境試驗(yàn)方法 254
第三節(jié) 高加速可靠性試驗(yàn) 260
實(shí)踐練習(xí)十一 270
附錄:相關(guān)國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)系列 271
參考文獻(xiàn) 275