弱磁無損檢測(cè)技術(shù)

定　價(jià)：￥88.00

作　者：	于潤(rùn)橋，胡博著
出版社：	科學(xué)出版社
叢編項(xiàng)：
標(biāo)　簽：	暫缺

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ISBN：	9787030592224	出版時(shí)間：	2018-11-01	包裝：	平裝
開本：	32開	頁數(shù)：	208	字?jǐn)?shù)：

內(nèi)容簡(jiǎn)介

　　弱磁無損檢測(cè)技術(shù)是一種基于材料磁特性、磁敏傳感器、磁效應(yīng)現(xiàn)象、磁信號(hào)處理技術(shù)和計(jì)算機(jī)技術(shù)等發(fā)展起來的磁法無損檢測(cè)技術(shù)。本書主要內(nèi)容包括弱磁無損檢測(cè)技術(shù)的特點(diǎn)及發(fā)展趨勢(shì)，弱磁無損檢測(cè)的基本理論，弱磁檢測(cè)儀器的研制思路，以及鐵磁性金屬材料、非鐵磁性金屬材料和非金屬材料弱磁無損檢測(cè)的相關(guān)案例等。