模擬電子系統(tǒng)設(shè)計(jì)指南：從半導(dǎo)體、分立元件到TI集成電路的分析與實(shí)現(xiàn)（實(shí)踐篇）

第1章構(gòu)建模擬電子系統(tǒng)的基本
知識(shí)
1．1電阻
1．1．1軸向引線型電阻
1．1．2電阻網(wǎng)絡(luò)
1．1．3貼片式電阻元件的封裝
1．2電容
1．2．1功能
1．2．2有極性電容
1．2．3無極性電容
1．2．4聚苯乙烯電容
1．2．5真實(shí)的電容值
1．2．6電容的寄生效應(yīng)
1．2．7寄生電容
1．2．8不同類型電容比較
1．3面包板
1．3．1面包板的結(jié)構(gòu)和功能
1．3．2面包板的寄生電容
第2章SPICE仿真工具
2．1Multisim Live特性及應(yīng)用
2．1．1登錄Multisim Live
2．1．2Multisim Live設(shè)計(jì)流程
2．2TINA仿真工具特性及應(yīng)用
2．2．1下載和安裝TINA仿真工具
2．2．2TI TINA設(shè)計(jì)流程
第3章測(cè)試儀器的原理
3．1數(shù)字示波器的原理
3．1．1信號(hào)的基本概念
3．1．2示波器分類
3．1．3數(shù)字示波器的基本原理
3．1．4性能參數(shù)
3．1．5時(shí)基顯示模式
3．2信號(hào)發(fā)生器原理
3．2．1信號(hào)發(fā)生器的功能
3．2．2信號(hào)發(fā)生器的分類
3．2．3工作原理
3．2．4性能參數(shù)
3．3線性直流電源的原理
3．3．1工作原理
3．3．2工作模式
3．3．3性能參數(shù)
3．3．4擴(kuò)展應(yīng)用
3．4數(shù)字萬用表的原理
3．4．1工作原理
3．4．2性能參數(shù)
3．5頻譜分析儀
3．5．1信號(hào)的時(shí)域和頻域表示
3．5．2頻譜分析儀的用途
3．5．3頻譜分析儀的種類
3．5．4性能參數(shù)
3．6直流電子負(fù)載
3．6．1電子負(fù)載的工作模式
3．6．2性能參數(shù)
第4章信號(hào)時(shí)域和頻域表示
4．1實(shí)驗(yàn)?zāi)康?br />4．2實(shí)驗(yàn)材料及儀器
4．3實(shí)驗(yàn)原理
第5章二極管電路設(shè)計(jì)與驗(yàn)證
5．1二極管I/V曲線測(cè)量
5．1．1實(shí)驗(yàn)?zāi)康?br />5．1．2實(shí)驗(yàn)材料及儀器
5．1．3電路設(shè)計(jì)原理
5．1．4硬件測(cè)試電路
5．1．5測(cè)試結(jié)果分析
5．2半波整流電路設(shè)計(jì)和驗(yàn)證
5．2．1實(shí)驗(yàn)?zāi)康?br />5．2．2實(shí)驗(yàn)材料及儀器
5．2．3電路設(shè)計(jì)原理
5．2．4硬件測(cè)試電路
5．2．5測(cè)試結(jié)果分析
5．3全波整流電路設(shè)計(jì)和驗(yàn)證
5．3．1實(shí)驗(yàn)?zāi)康?br />5．3．2實(shí)驗(yàn)材料及儀器
5．3．3電路設(shè)計(jì)原理
5．3．4硬件測(cè)試電路
5．3．5測(cè)試結(jié)果分析
5．4橋式整流電路設(shè)計(jì)和驗(yàn)證
5．4．1實(shí)驗(yàn)?zāi)康?br />5．4．2實(shí)驗(yàn)材料及儀器
5．4．3電路設(shè)計(jì)原理
5．4．4硬件測(cè)試電路
5．4．5測(cè)試結(jié)果分析
5．5限幅電路設(shè)計(jì)和驗(yàn)證
5．5．1實(shí)驗(yàn)?zāi)康?br />5．5．2實(shí)驗(yàn)材料及儀器
5．5．3電路設(shè)計(jì)原理
5．5．4硬件測(cè)試電路
5．5．5測(cè)試結(jié)果分析
5．6交流耦合和直流恢復(fù)電路設(shè)計(jì)和
驗(yàn)證
5．6．1實(shí)驗(yàn)?zāi)康?br />5．6．2實(shí)驗(yàn)材料及儀器
5．6．3電路設(shè)計(jì)原理
5．6．4硬件測(cè)試電路
5．6．5測(cè)試結(jié)果分析
5．7可變衰減器設(shè)計(jì)和驗(yàn)證
5．7．1實(shí)驗(yàn)?zāi)康?br />5．7．2實(shí)驗(yàn)材料及儀器
5．7．3電路設(shè)計(jì)原理
5．7．4硬件測(cè)試電路
5．7．5測(cè)試結(jié)果分析
第6章雙極結(jié)型晶體管電路設(shè)計(jì)與
驗(yàn)證
6．1BJT用作二極管
6．1．1實(shí)驗(yàn)?zāi)康?br />6．1．2實(shí)驗(yàn)材料及儀器
6．1．3電路設(shè)計(jì)原理
6．1．4硬件測(cè)試電路
6．1．5測(cè)試結(jié)果分析
6．2BJT輸出特性曲線測(cè)量
6．2．1實(shí)驗(yàn)?zāi)康?br />6．2．2實(shí)驗(yàn)材料及儀器
6．2．3電路設(shè)計(jì)原理
6．2．4階梯波信號(hào)產(chǎn)生方法
6．2．5硬件測(cè)試電路
6．2．6測(cè)試結(jié)果分析
6．3BJT共射極放大電路設(shè)計(jì)和
驗(yàn)證
6．3．1實(shí)驗(yàn)?zāi)康?br />6．3．2實(shí)驗(yàn)材料及儀器
6．3．3電路設(shè)計(jì)原理
6．3．4硬件測(cè)試電路
6．3．5測(cè)試結(jié)果分析
6．4BJT鏡像電流源設(shè)計(jì)和
驗(yàn)證
6．4．1實(shí)驗(yàn)?zāi)康?br />6．4．2實(shí)驗(yàn)材料及儀器
6．4．3電路設(shè)計(jì)原理
6．4．4硬件測(cè)試電路
6．4．5測(cè)試結(jié)果分析
6．5基極電流補(bǔ)償鏡像電流源設(shè)計(jì)和
驗(yàn)證
6．5．1實(shí)驗(yàn)?zāi)康?br />6．5．2實(shí)驗(yàn)材料及儀器
6．5．3電路設(shè)計(jì)原理
6．5．4硬件測(cè)試電路
6．5．5測(cè)試結(jié)果分析
6．6零增益放大器設(shè)計(jì)和驗(yàn)證
6．6．1實(shí)驗(yàn)?zāi)康?br />6．6．2實(shí)驗(yàn)材料及儀器
6．6．3電路設(shè)計(jì)原理
6．6．4硬件測(cè)試電路
6．6．5測(cè)試結(jié)果分析
6．7穩(wěn)壓電流源設(shè)計(jì)和驗(yàn)證
6．7．1實(shí)驗(yàn)?zāi)康?br />6．7．2實(shí)驗(yàn)材料及儀器
6．7．3電路設(shè)計(jì)原理
6．7．4硬件測(cè)試電路
6．7．5測(cè)試結(jié)果分析
6．8并聯(lián)整流器設(shè)計(jì)和驗(yàn)證
6．8．1實(shí)驗(yàn)?zāi)康?br />6．8．2實(shí)驗(yàn)材料及儀器
6．8．3電路設(shè)計(jì)原理
6．8．4硬件測(cè)試電路
6．8．5測(cè)試結(jié)果分析
6．9射極跟隨器設(shè)計(jì)和驗(yàn)證
6．9．1實(shí)驗(yàn)?zāi)康?br />6．9．2實(shí)驗(yàn)材料及儀器
6．9．3電路設(shè)計(jì)原理
6．9．4硬件測(cè)試電路
6．9．5測(cè)試結(jié)果分析
6．10差模輸入差分放大器電路設(shè)計(jì)
和驗(yàn)證
6．10．1實(shí)驗(yàn)?zāi)康?br />6．10．2實(shí)驗(yàn)材料及儀器
6．10．3電路設(shè)計(jì)原理
6．10．4硬件測(cè)試電路
6．10．5測(cè)試結(jié)果分析
6．11共模輸入差分放大器電路設(shè)計(jì)
和驗(yàn)證
6．11．1實(shí)驗(yàn)?zāi)康?br />6．11．2實(shí)驗(yàn)材料及儀器
6．11．3電路設(shè)計(jì)原理
6．11．4硬件測(cè)試電路
6．11．5測(cè)試結(jié)果分析
第7章金屬氧化物場(chǎng)效應(yīng)晶體管電路
設(shè)計(jì)與驗(yàn)證
7．1MOS用作二極管電路測(cè)試
7．1．1實(shí)驗(yàn)?zāi)康?br />7．1．2實(shí)驗(yàn)材料及儀器
7．1．3電路設(shè)計(jì)原理
7．1．4硬件測(cè)試電路
7．1．5測(cè)試結(jié)果分析
7．2MOS輸出曲線測(cè)量
7．2．1實(shí)驗(yàn)?zāi)康?br />7．2．2實(shí)驗(yàn)材料及儀器
7．2．3電路設(shè)計(jì)原理
7．2．4硬件測(cè)試電路
7．2．5測(cè)試結(jié)果分析
7．3MOS轉(zhuǎn)移特性曲線測(cè)量
7．3．1實(shí)驗(yàn)?zāi)康?br />7．3．2實(shí)驗(yàn)材料及儀器
7．3．3電路設(shè)計(jì)原理
7．3．4硬件測(cè)試電路
7．3．5測(cè)試結(jié)果分析
7．4MOS共源極放大電路設(shè)計(jì)和
驗(yàn)證
7．4．1實(shí)驗(yàn)?zāi)康?br />7．4．2實(shí)驗(yàn)材料及儀器
7．4．3電路設(shè)計(jì)原理
7．4．4硬件測(cè)試電路
7．4．5測(cè)試結(jié)果分析
7．5MOS鏡像電流源電路設(shè)計(jì)和
驗(yàn)證
7．5．1實(shí)驗(yàn)?zāi)康?br />7．5．2實(shí)驗(yàn)材料及儀器
7．5．3電路設(shè)計(jì)原理
7．5．4硬件測(cè)試電路
7．5．5測(cè)試結(jié)果分析
7．6零增益放大器電路設(shè)計(jì)和
驗(yàn)證
7．6．1實(shí)驗(yàn)?zāi)康?br />7．6．2實(shí)驗(yàn)材料及儀器
7．6．3電路設(shè)計(jì)原理
7．6．4硬件測(cè)試電路
7．6．5測(cè)試結(jié)果分析
7．7源極跟隨器電路設(shè)計(jì)和
驗(yàn)證
7．7．1實(shí)驗(yàn)?zāi)康?br />7．7．2實(shí)驗(yàn)材料及儀器
7．7．3電路設(shè)計(jì)原理
7．7．4硬件測(cè)試電路
7．7．5測(cè)試結(jié)果分析
7．8差模輸入差分放大器電路設(shè)計(jì)和
驗(yàn)證
7．8．1實(shí)驗(yàn)?zāi)康?br />7．8．2實(shí)驗(yàn)材料及儀器
7．8．3電路設(shè)計(jì)原理
7．8．4硬件測(cè)試電路
7．8．5測(cè)試結(jié)果分析
7．9共模輸入差分放大器電路設(shè)計(jì)和
驗(yàn)證
7．9．1實(shí)驗(yàn)?zāi)康?br />7．9．2實(shí)驗(yàn)材料及儀器
7．9．3電路設(shè)計(jì)原理
7．9．4硬件測(cè)試電路
7．9．5測(cè)試結(jié)果分析
第8章集成運(yùn)算放大器電路設(shè)計(jì)與
驗(yàn)證
8．1同相放大器電路設(shè)計(jì)和
驗(yàn)證
8．1．1實(shí)驗(yàn)?zāi)康?br />8．1．2實(shí)驗(yàn)材料及儀器
8．1．3電路設(shè)計(jì)原理
8．1．4硬件測(cè)試電路
8．1．5測(cè)試結(jié)果分析
8．2反相放大器電路設(shè)計(jì)和
驗(yàn)證
8．2．1實(shí)驗(yàn)?zāi)康?br />8．2．2實(shí)驗(yàn)材料及儀器
8．2．3電路設(shè)計(jì)原理
8．2．4硬件測(cè)試電路
8．2．5測(cè)試結(jié)果分析
8．3電壓跟隨器電路設(shè)計(jì)和
驗(yàn)證
8．3．1實(shí)驗(yàn)?zāi)康?br />8．3．2實(shí)驗(yàn)材料及儀器
8．3．3電路設(shè)計(jì)原理
8．3．4硬件測(cè)試電路
8．3．5測(cè)試結(jié)果分析
8．4加法器電路設(shè)計(jì)和驗(yàn)證
8．4．1實(shí)驗(yàn)?zāi)康?br />8．4．2實(shí)驗(yàn)材料及儀器
8．4．3電路設(shè)計(jì)原理
8．4．4硬件測(cè)試電路
8．4．5測(cè)試結(jié)果分析
8．5積分器電路設(shè)計(jì)和驗(yàn)證
8．5．1實(shí)驗(yàn)?zāi)康?br />8．5．2實(shí)驗(yàn)材料及儀器
8．5．3電路設(shè)計(jì)原理
8．5．4硬件測(cè)試電路
8．5．5測(cè)試結(jié)果分析
8．6微分器電路設(shè)計(jì)和驗(yàn)證
8．6．1實(shí)驗(yàn)?zāi)康?br />8．6．2實(shí)驗(yàn)材料及儀器
8．6．3電路設(shè)計(jì)原理
8．6．4硬件測(cè)試電路
8．6．5測(cè)試結(jié)果分析
8．7半波整流器電路設(shè)計(jì)和
驗(yàn)證
8．7．1實(shí)驗(yàn)?zāi)康?br />8．7．2實(shí)驗(yàn)材料及儀器
8．7．3電路設(shè)計(jì)原理
8．7．4硬件測(cè)試電路
8．7．5測(cè)試結(jié)果分析
8．8全波整流器電路設(shè)計(jì)和
驗(yàn)證
8．8．1實(shí)驗(yàn)?zāi)康?br />8．8．2實(shí)驗(yàn)材料及儀器
8．8．3電路設(shè)計(jì)原理
8．8．4硬件測(cè)試電路
8．8．5測(cè)試結(jié)果分析
8．9單電源同相放大器電路設(shè)計(jì)和
驗(yàn)證
8．9．1實(shí)驗(yàn)?zāi)康?br />8．9．2實(shí)驗(yàn)材料及儀器
8．9．3電路設(shè)計(jì)原理
8．9．4硬件測(cè)試電路
8．9．5測(cè)試結(jié)果分析
第9章集成差動(dòng)放大器電路設(shè)計(jì)與
驗(yàn)證
9．1應(yīng)變力測(cè)量電路設(shè)計(jì)和
驗(yàn)證
9．1．1實(shí)驗(yàn)?zāi)康?br />9．1．2實(shí)驗(yàn)材料及儀器
9．1．3應(yīng)變片原理
9．1．4電路設(shè)計(jì)原理
9．1．5硬件測(cè)試電路
9．1．6測(cè)試結(jié)果分析
9．2熱電阻測(cè)量電路設(shè)計(jì)和
驗(yàn)證
9．2．1實(shí)驗(yàn)?zāi)康?br />9．2．2實(shí)驗(yàn)材料及儀器
9．2．3溫度傳感器原理
9．2．4電路設(shè)計(jì)原理
9．2．5硬件測(cè)試電路
9．2．6測(cè)試結(jié)果分析
第10章有源濾波器電路設(shè)計(jì)與
驗(yàn)證
10．1一階有源低通濾波器電路設(shè)計(jì)
和驗(yàn)證
10．1．1實(shí)驗(yàn)?zāi)康?br />10．1．2實(shí)驗(yàn)材料及儀器
10．1．3電路設(shè)計(jì)原理
10．1．4硬件測(cè)試電路
10．1．5測(cè)試結(jié)果分析
10．2一階有源高通濾波器電路設(shè)計(jì)
和驗(yàn)證
10．2．1實(shí)驗(yàn)?zāi)康?br />10．2．2實(shí)驗(yàn)材料及儀器
10．2．3電路設(shè)計(jì)原理
10．2．4硬件測(cè)試電路
10．2．5測(cè)試結(jié)果分析
10．3一階有源帶通濾波器電路設(shè)計(jì)
和驗(yàn)證
10．3．1實(shí)驗(yàn)?zāi)康?br />10．3．2實(shí)驗(yàn)材料及儀器
10．3．3電路設(shè)計(jì)原理
10．3．4硬件測(cè)試電路
10．3．5測(cè)試結(jié)果分析
10．4一階有源帶阻濾波器電路設(shè)計(jì)
和驗(yàn)證
10．4．1實(shí)驗(yàn)?zāi)康?br />10．4．2實(shí)驗(yàn)材料及儀器
10．4．3電路設(shè)計(jì)原理
10．4．4硬件測(cè)試電路
10．4．5測(cè)試結(jié)果分析
10．5二階有源低通濾波器電路設(shè)計(jì)
和驗(yàn)證
10．5．1實(shí)驗(yàn)?zāi)康?br />10．5．2實(shí)驗(yàn)材料及儀器
10．5．3電路設(shè)計(jì)原理
10．5．4硬件測(cè)試電路
10．5．5測(cè)試結(jié)果分析
第11章功率放大器電路設(shè)計(jì)與
驗(yàn)證
11．1B類功率放大器電路設(shè)計(jì)和
驗(yàn)證
11．1．1實(shí)驗(yàn)?zāi)康?br />11．1．2實(shí)驗(yàn)材料及儀器
11．1．3電路設(shè)計(jì)原理
11．1．4硬件測(cè)試電路
11．1．5測(cè)試結(jié)果分析
11．2AB類功率輸出放大器電路設(shè)計(jì)
和驗(yàn)證（一）
11．2．1實(shí)驗(yàn)?zāi)康?br />11．2．2實(shí)驗(yàn)材料及儀器
11．2．3電路設(shè)計(jì)原理
11．2．4硬件測(cè)試電路
11．2．5測(cè)試結(jié)果分析
11．3AB類功率輸出放大器電路設(shè)計(jì)
和驗(yàn)證（二）
11．3．1實(shí)驗(yàn)?zāi)康?br />11．3．2實(shí)驗(yàn)材料及儀器
11．3．3電路設(shè)計(jì)原理
11．3．4硬件測(cè)試電路
11．3．5測(cè)試結(jié)果分析
第12章振蕩器電路設(shè)計(jì)與驗(yàn)證
12．1移相振蕩器電路設(shè)計(jì)和
驗(yàn)證
12．1．1實(shí)驗(yàn)?zāi)康?br />12．1．2實(shí)驗(yàn)材料及儀器
12．1．3電路設(shè)計(jì)原理
12．1．4硬件測(cè)試電路
12．1．5測(cè)試結(jié)果分析
12．2文氏橋振蕩器電路設(shè)計(jì)和
驗(yàn)證
12．2．1實(shí)驗(yàn)?zāi)康?br />12．2．2實(shí)驗(yàn)材料及儀器
12．2．3電路設(shè)計(jì)原理
12．2．4硬件測(cè)試電路
12．2．5測(cè)試結(jié)果分析
第13章電源管理器電路設(shè)計(jì)與
驗(yàn)證
13．1線性電源電路設(shè)計(jì)和
驗(yàn)證
13．1．1實(shí)驗(yàn)?zāi)康?br />13．1．2實(shí)驗(yàn)材料及儀器
13．1．3電路設(shè)計(jì)原理
13．1．4硬件測(cè)試電路
13．1．5測(cè)試結(jié)果分析
13．2降壓型開關(guān)電源設(shè)計(jì)與
驗(yàn)證
13．2．1實(shí)驗(yàn)?zāi)康?br />13．2．2實(shí)驗(yàn)材料和儀器
13．2．3電路設(shè)計(jì)原理
13．2．4硬件測(cè)試電路
13．2．5測(cè)試結(jié)果分析
13．3升壓型開關(guān)電源設(shè)計(jì)與
驗(yàn)證
13．3．1實(shí)驗(yàn)?zāi)康?br />13．3．2實(shí)驗(yàn)材料和儀器
13．3．3電路設(shè)計(jì)原理
13．3．4硬件測(cè)試電路
13．3．5測(cè)試結(jié)果分析
第14章模擬電路自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)的
構(gòu)建
14．1實(shí)驗(yàn)?zāi)康?br />14．2實(shí)驗(yàn)材料及儀器
14．3設(shè)計(jì)原理
14．3．1測(cè)試儀器通過網(wǎng)絡(luò)與上位機(jī)
連接
14．3．2自動(dòng)測(cè)試過程的實(shí)現(xiàn)