統(tǒng)計學的世界（第8版）

定　價：￥148.00

作　者：	[美] 戴維·穆爾，[美] 威廉·諾茨著；鄭磊譯
出版社：	中信出版集團
叢編項：
標　簽：	暫缺

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ISBN：	9787508666723	出版時間：	2017-09-01	包裝：	平裝
開本：	16開	頁數(shù)：	695	字數(shù)：

內(nèi)容簡介

　　統(tǒng)計學的思想和各種統(tǒng)計數(shù)據(jù)對政府、社會乃至我們的工作和日常生活都有著不可忽視的影響，甚至超乎你的想象。通過閱讀本書，你將會對我們生活的這個世界有更完整、更清晰的認識。這不是一本講述干巴巴的統(tǒng)計學理論的書，它主要介紹統(tǒng)計學概念的應(yīng)用及其對日常生活、公共政策和許多其他領(lǐng)域的影響。書中沒有煩瑣的公式、圖表和計算，你只要看得懂而且會解簡單的方程式就足夠了。本書著重于啟發(fā)思考，這比生搬硬套地使用數(shù)學公式更有助于訓練看問題的視角和解決問題的思維。本書把統(tǒng)計學概念分成四個部分來呈現(xiàn)：數(shù)據(jù)的生產(chǎn)、整合數(shù)據(jù)、機會與概率、統(tǒng)計推斷。本書一點兒也不乏味，恰恰相反，它是那樣生動有趣，深入淺出地把統(tǒng)計學的概念和分析方法呈現(xiàn)在你面前。通過一個個具體的案例、簡單的練習和知識普及，能讓你在閱讀過程中不知不覺地增長統(tǒng)計學知識，提高分析和解決問題的水平。這是一本能給你帶來閱讀樂趣的書，也是一本能讓你更睿智的書。

作者簡介

　　戴維·穆爾（David S. Moore），就職于美國普渡大學，曾擔任美國統(tǒng)計學會主席。他獲得了普林斯頓大學的數(shù)學學士學位和康奈爾大學的數(shù)學博士學位，著有多篇統(tǒng)計理論方面的學術(shù)論文。他還是美國統(tǒng)計學會、數(shù)學統(tǒng)計研究所、國際統(tǒng)計學研究所會員，也曾擔任美國國家自然基金會統(tǒng)計學和概率項目主任、國際統(tǒng)計學教育協(xié)會主席，并獲得美國數(shù)學協(xié)會杰出教育獎。威廉·諾茨（William I. Notz），就職于美國俄亥俄大學，獲得了約翰·霍普金斯大學的物理學學士學位和康奈爾大學的數(shù)學博士學位。他一開始就職于普渡大學統(tǒng)計學系。在那里，他和戴維·穆爾一起講授統(tǒng)計學課程，對統(tǒng)計學教育產(chǎn)生了興趣。他的研究領(lǐng)域是實驗設(shè)計和計算機實驗。他是美國統(tǒng)計學會和國際統(tǒng)計學研究所會員。鄭磊，博士，本科就讀于蘭州大學數(shù)學系，后獲得荷蘭瑪斯特里赫特管理學院MBA學位和南開大學經(jīng)濟學博士學位。工作經(jīng)歷涵蓋制造業(yè)、咨詢和智庫，現(xiàn)在深圳和香港從事經(jīng)濟研究和投資銀行工作，出版4本專著，翻譯近20本引進版書籍。

圖書目錄

致讀者 // III
序言了解統(tǒng)計學 // VII
第1部分數(shù)據(jù)的生產(chǎn)
第1章數(shù)據(jù)從哪里來 // 003
第2章好樣本和壞樣本 // 023
第3章樣本可以告訴我們什么 // 042
第4章真實世界中的抽樣調(diào)查 // 066
第5章好實驗與壞實驗 // 098
第6章現(xiàn)實世界中的實驗 // 120
第7章數(shù)據(jù)倫理 // 145
第8章度量 // 167
第9章統(tǒng)計數(shù)字會說謊 // 194
第1 部分內(nèi)容回顧 // 153
第2部分整合數(shù)據(jù)
第10章好圖表與壞圖表 // 227
第11章用圖呈現(xiàn)數(shù)值變量的分布 // 254
第12章用數(shù)字描述分布 // 279
第13章正態(tài)分布 // 309
第14章描述相關(guān)關(guān)系：散點圖和相關(guān)系數(shù) // 333
第15 章描述相關(guān)關(guān)系：回歸、預(yù)測與因果關(guān)系 // 001
第16 章居民消費價格指數(shù)和政府統(tǒng)計數(shù)據(jù) // 032
第2 部分內(nèi)容回顧 // 056
第3 部分機會與概率
第17 章思考隨機事件 // 073
第18 章概率模型 // 096
第19 章統(tǒng)計模擬 // 114
第20 章賭場的生意經(jīng)：期望值 // 135
第3 部分內(nèi)容回顧 // 153
第4 部分統(tǒng)計推斷
第21 章什么是置信區(qū)間 // 165
第22 章什么是顯著性檢驗 // 193
第23 章統(tǒng)計推斷的濫用 // 220
第24 章雙向表與卡方檢驗 // 240
第4 部分內(nèi)容回顧 // 266
附錄 // 279