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當(dāng)前位置: 首頁(yè)出版圖書(shū)科學(xué)技術(shù)工業(yè)技術(shù)機(jī)械、儀表工業(yè)Lab Sessions Guide Advanced Methods for Materials Charaecterization

Lab Sessions Guide Advanced Methods for Materials Charaecterization

Lab Sessions Guide Advanced Methods for Materials Charaecterization

定 價(jià):¥39.00

作 者: 劉旭燕,李強(qiáng),潘登 等 著
出版社: 機(jī)械工業(yè)出版社
叢編項(xiàng):
標(biāo) 簽: 暫缺

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ISBN: 9787111534303 出版時(shí)間: 2016-09-01 包裝: 平裝
開(kāi)本: 32開(kāi) 頁(yè)數(shù): 47 字?jǐn)?shù):  

內(nèi)容簡(jiǎn)介

  本書(shū)詳細(xì)介紹了材料科學(xué)及工程、物理、化學(xué)和其他相關(guān)領(lǐng)域常見(jiàn)的實(shí)驗(yàn)方法,并介紹了這些實(shí)驗(yàn)的目的、原理、實(shí)驗(yàn)設(shè)備及操作流程,通過(guò)一步一步的操作來(lái)指導(dǎo)讀者熟悉實(shí)驗(yàn)流程,發(fā)現(xiàn)實(shí)驗(yàn)之美。本書(shū)適合作為以上專(zhuān)業(yè)學(xué)生及研究人員的實(shí)驗(yàn)指導(dǎo)書(shū)。

作者簡(jiǎn)介

暫缺《Lab Sessions Guide Advanced Methods for Materials Charaecterization》作者簡(jiǎn)介

圖書(shū)目錄

Preface
Lab Session 1: Scanning Electron Microscopy(SEM)(1)
Lab Session 2: Transmission Electron Microscopy(TEM)
(8)
Lab Session 3: XRay Diffractometry(XRD)(14)
Lab Session 4: Atomic Force Microscopy(AFM)(21)
Lab Session 5: UltravioletVisible Spectroscopy(29)
Lab Session 6: Raman Spectroscopy(36)
Lab Session 7: Differential Scanning Calorimetry(DSC)
(39)
Lab Session 8: Electrical Properties(43)

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