X射線多晶衍射數(shù)據(jù)Rietveld精修及GSAS軟件入門

定　價：￥38.60

作　者：	鄭振環(huán)，李強(qiáng) 著
出版社：	中國建材工業(yè)出版社
叢編項：
標(biāo)　簽：	計算機(jī)/網(wǎng)絡(luò) 行業(yè)軟件及應(yīng)用

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ISBN：	9787516014561	出版時間：	2016-06-01	包裝：	平裝
開本：	16	頁數(shù)：	120	字?jǐn)?shù)：

內(nèi)容簡介

　　Rietveld法全譜擬合已成為X射線多晶衍射修正晶體結(jié)構(gòu)的重要方法。本書共分為四章，側(cè)重從操作示例介紹Rietveld法的基本原理和精修過程。第1章簡要介紹Rietveld法的發(fā)展概況和基本原理。第2章介紹精修軟件EXPGUI-GSAS的安裝和使用界面。第3章介紹Rietveld法X射線多晶衍射數(shù)據(jù)的實驗測試，并以簡單例子演示EXPGUI-GSAS精修過程以及結(jié)果的提取和圖譜繪圖。第4章給出了三個提高練習(xí)示例，包括創(chuàng)建儀器參數(shù)文件、含非晶混合物的定量分析以及占位修正等。

作者簡介

暫缺《X射線多晶衍射數(shù)據(jù)Rietveld精修及GSAS軟件入門》作者簡介

圖書目錄

第1章　Rietveld法結(jié)構(gòu)精修
　1.1　Rietveld法結(jié)構(gòu)精修發(fā)展概況
　1.2　Rietveld法基本原理
　1.3　參數(shù)修正順序與結(jié)果判據(jù)
　　1.3.1　參數(shù)修正的順序
　　1.3.2　精修的數(shù)值判據(jù)
　　1.3.3　精修的圖示判斷
　1.4　精修過程出現(xiàn)的問題和對策
　1.5　Rietveld法結(jié)構(gòu)精修的應(yīng)用
　　1.5.1　修正晶體結(jié)構(gòu)
　　1.5.2　相變研究和點陣常數(shù)測定
　　1.5.3　物相定量分析
　　1.5.4　晶粒尺寸和微應(yīng)變測定
第2章　EXPGUI-GSAS軟件安裝與界面介紹
　2.1　GSAS軟件簡介
　2.2　EXPGUI-GSAS軟件的安裝
　2.3　EXPGUI-GSAS軟件界面介紹
　　2.3.1　菜單欄
　　2.3.2　選項卡界面
　　2.3.3　EXPGUI幫助內(nèi)容
第3章　EXPGUI-GSAS結(jié)構(gòu)精修起步
　3.1　精修前的準(zhǔn)備工作
　　3.1.1　衍射數(shù)據(jù)的測定
　　3.1.2　衍射數(shù)據(jù)的轉(zhuǎn)換
　　3.1.3　初始結(jié)構(gòu)的獲取
　3.2　EXPGUI精修簡單示例
　　3.2.1　生成EXP文件
　　3.2.2　精修過程
　　3.2.3　常見問題
　3.3　精修結(jié)果提取與繪圖
　　3.3.1　精修結(jié)果提取
　　3.3.2　精修圖譜繪圖
第4章　EXPGUI-GSAS提高練習(xí)
　4.1　儀器參數(shù)文件的建立
　　4.1.1　基本知識
　　4.1.2　操作過程
　4.2　物相（含非晶）定量分析
　　4.2.1　基本原理
　　4.2.2　衍射數(shù)據(jù)測試
　　4.2.3　精修過程
　4.3　Le Bail法擬合以及約束的使用
　　4.3.1　問題描述
　　4.3.2　精修過程
參考文獻(xiàn)