電子測量原理與應用（下冊）

前言
第3篇  系統的測量
第8章  測量系統的基本特性
8.1  概述
8.1.1  測量系統的定義
8.1.2  測量系統的響應特性
8.2  測量系統的靜態(tài)特性
8.2.1  靜態(tài)特性的表征和獲取
8.2.2  靜態(tài)特性的基本參數
8.2.3  靜態(tài)特性的質量指標
8.3  電子測量儀器的技術規(guī)范及誤差的表示方法
8.3.1  技術規(guī)范
8.3.2  工作特性及儀器誤差
8.4  測試系統的動態(tài)特性
8.4.1  動態(tài)特性概述
8.4.2  描述測量系統動態(tài)特性的數學模型
8.4.3  測量系統的動態(tài)特性參數
8.4.4  測量系統動態(tài)特性的評價指標及其測量
本章小結
思考與練習
第9章  信號源
9.1  概述
9.1.1  信號源在系統測量中的作用
9.1.2  信號源的分類
9.1.3  主要技術指標
9.2  傳統的信號源
9.2.1  低頻信號源
9.2.2  高頻信號源
9.2.3  脈沖信號源
9.2.4  函數信號源
9.2.5  掃頻信號源
9.3  鎖相頻率合成信號源
9.3.1  合成信號源概述及直接合成原理
9.3.2  鎖相環(huán)的基本形式及鎖相頻率合成的原理
9.3.3  提高頻率分辨力的鎖相合成技術
9.3.4  擴展輸出頻率上限的鎖相技術
9.3.5  鎖相合成信號源的實例分析
9.4  直接數字合成（DDS）信號源
9.4.1  DDS信號源的基本組成原理
9.4.2  DDS的單片集成電路
9.4.3  DDS的技術指標及特點
9.4.4  DDS+PLL頻率合成信號源
9.4.5  任意波形信號源
9.4.6  合成掃頻信號源
本章小結
思考與練習
第10章  電子元器件的測量
10.1  概述
10.1.1  電子元器件的分類
10.1.2  電子元器件測量的特點
10.2  無源元件的阻抗測量
10.2.1  無源元件R、L、C的阻抗概述
10.2.2  電橋法
10.2.3  諧振法
10.2.4  電壓電流法
10.2.5  自動平衡電橋
10.3  分立器件參數的測試內容
10.4  分立器件參數的測量方法
10.4.1  電壓參數的測量
10.4.2  電流參數的測量
10.4.3  放大倍數的測量
10.4.4  阻抗參數的測量
10.5  分立器件測試儀器
10.5.1  晶體管特性圖示儀
10.5.2  分立器件綜合測試儀
本章小結
思考與練習
第11章  集成電路測試
11.1  概述
11.1.1  集成電路測試的意義
11.1.2  集成電路測試的基本原理
11.1.3  集成電路測試的分類
11.1.4  測試的主要環(huán)節(jié)
11.1.5  集成電路測試系統
11.2  數字集成電路測試技術
11.2.1  概述
11.2.2  數字集成電路的參數測試
11.2.3  功能測試
11.3  模擬集成電路測試技術
11.3.1  概述
11.3.2  模擬集成電路的測試系統
11.3.3  線性集成運算放大器的測試
11.4  精密測量單元PMU
11.4.1  PMU的特點
11.4.2  PMU的組成原理
11.4.3  PMU的技術指標
11.4.4  PMU的應用實例
11.5  混合集成電路測試
11.5.1  對混合信號集成電路的測試要求和系統結構
11.5.2  ADC、DAC測試技術簡介
11.5.3  DAC測試技術
本章小結
思考與練習
第12章  線性系統特性測量和
網絡分析
12.1  線性系統的頻率特性測量
12.1.1  線性系統的頻率特性測量概述
12.1.2  幅頻特性測量
12.1.3  相頻特性測量
12.1.4  矢量電壓測量
12.1.5  掃頻儀
12.2  網絡分析概述
12.2.1  網絡分析的基本概念
12.2.2  微波的S參數
12.3  網絡測量原理
12.3.1  網絡分析儀的基本原理
12.3.2  矢量網絡分析儀
12.3.3  網絡分析儀的誤差來源
12.3.4  網絡分析儀的誤差校準和修正
12.4  網絡測量新技術簡介
12.4.1  調制矢量網絡分析技術
12.4.2  非線性矢量網絡分析技術
12.4.3  多端口矢量網絡分析技術
12.5  線性系統的時域特性測量
12.5.1  線性系統時域特性概述
12.5.2  時域特性測量的實現
本章小結
思考與練習
部分習題參考答案
參考文獻