專利測度與評價指標體系研究

定　價：￥35.00

作　者：	葉春明，劉長平著
出版社：	知識產(chǎn)權(quán)出版社
叢編項：
標　簽：	法律民法知識產(chǎn)權(quán)

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ISBN：	9787513018937	出版時間：	2013-05-01	包裝：	平裝
開本：	16開	頁數(shù)：	231	字數(shù)：

內(nèi)容簡介

　　隨著國際競爭的加劇和知識經(jīng)濟的興起，知識產(chǎn)權(quán)戰(zhàn)略己成為我國經(jīng)濟社會發(fā)展的一項基本戰(zhàn)略，而專利的測度、評價與保護是實現(xiàn)該戰(zhàn)略的重要環(huán)節(jié)。在當前形勢下，建立一個科學(xué)、全面、實用的專利評價指標體系和評價方法顯得非常必要和緊迫?！秾＠麥y度與評價指標體系研究》在對專利測度與專利評價的理論研究基礎(chǔ)上，對比分析了發(fā)達國家以及我國現(xiàn)有的專利評價指標體系，依據(jù)評價指標體系設(shè)計原則，結(jié)合技術(shù)創(chuàng)新的發(fā)展趨勢，構(gòu)建出包含區(qū)域、高校（研究所）、企業(yè)不同層次的專利綜合評價指標體系、專利保護水平評價指標體系和基于證券化的專利價值評估指標體系，并利用基于集成各種評價模型的綜合評價方法，對選取的不同行業(yè)的樣本企業(yè)或高校進行技術(shù)創(chuàng)新與專利評價的實證分析。最后，針對專利綜合實力對經(jīng)濟發(fā)展的貢獻進行了實證研究，揭示出專利綜合實力與經(jīng)濟增長的內(nèi)在關(guān)系以及對經(jīng)濟發(fā)展的促進作用。

作者簡介

　　葉春明，安徽宣城人，博士，教授，上海理工大學(xué)博士生導(dǎo)師。中國系統(tǒng)工程學(xué)會教育系統(tǒng)工程委員會理事，上海市系統(tǒng)工程學(xué)會理事，上海市工業(yè)工程學(xué)會秘書長，2008年寶鋼教師獎獲得者，國家知識產(chǎn)權(quán)專家?guī)焓着脒x專家。曾以第三成員身份獲得部級科技進步一等獎一項，以團隊成員身份獲得部級科技進步二等獎一項，以主持人身份獲得市級教學(xué)成果三等獎兩項。近年來主持了國家自然科學(xué)基金項目（71271138），科技部重大專項合作課題（2009ZX07419-004），教育部高校博士學(xué)科點專項科研基金項目（20093120110008），教育部人文社會科學(xué)規(guī)劃基金項目（10YJA630187），上海市教育委員會科研創(chuàng)新重點項目（12ZS133），上海市哲學(xué)社會科學(xué)規(guī)劃課題（2008BJB036）等?！断到y(tǒng)工程學(xué)報》、《計算機集成制造系統(tǒng)》、《工業(yè)工程與管理》等期刊審稿專家。目前在國內(nèi)外發(fā)表論文一百八十多篇，其中三十余篇被三大檢索收錄。劉長平，河南洛陽人，講師，上海理工大學(xué)博士研究生。研究領(lǐng)域為管理科學(xué)與工程，目前發(fā)表論文十余篇，主持市廳級課題兩項，參與完成各種課題十余項。

圖書目錄

第一章緒論 1．1 研究意義 1．2 研究內(nèi)容與方法第二章國內(nèi)外相關(guān)研究 2．1 國外研究現(xiàn)狀 2．1．1 日本知識產(chǎn)權(quán)管理評估指標體系 2．1．2 美國CHI Research專利評價指標 2．1．3 瑞士《洛桑年鑒》中的專利評價指標 2．2 國內(nèi)研究現(xiàn)狀 2．2．1 區(qū)域方面 2．2．2 企業(yè)方面 2．2．3 高校(研究所)方面 2．2．4 知識產(chǎn)權(quán)保護水平評價及其他方面第三章專利綜合評價指標體系 3．1 專利概述 3．2 構(gòu)建專利綜合評價指標體系的原則和目標 3．2．1 構(gòu)建評價指標體系遵循的原則 3．2．2 構(gòu)建評價指標體系的目標 3．3 區(qū)域?qū)＠u價指標體系 3．3．1 區(qū)域?qū)＠u價指標體系構(gòu)建 3．3．2 區(qū)域?qū)＠u價指標體系解析 3．4 企業(yè)專利評價指標體系 3．4．1 企業(yè)專利評價指標體系構(gòu)建 3．4．2 企業(yè)專利評價指標體系解析 3．5 高校專利評價指標體系 3．5．1 高校專利評價指標體系構(gòu)建 3．5．2 高校專利評價指標體系解析 3．6 專利保護水平評價指標體系 3．6．1 區(qū)域?qū)＠Ｗo水平評價指標體系 3．6．2 高技術(shù)企業(yè)專利保護水平評價指標體系第四章基于證券化的專利價值評估指標體系 4．1 知識產(chǎn)權(quán)價值評估的基本方法和影響因素 4．1．1 成本法 4．1．2 收益法 4．1．3 市場法 4．1．4 知識產(chǎn)權(quán)價值評估影響因素 4．2 專利證券化的依據(jù) 4．2．1 資產(chǎn)證券化的概念 4．2．2 專利證券化的理論依據(jù) 4．3 專利證券化的過程 4．3．1 專利證券化融資模式的特殊性 4．3．2 專利證券化交易原理與操作流程 4．4 專利證券化價值評估指標體系 4．4．1 專利證券化價值評估的特殊性 4．4．2 專利證券化價值評估的影響因素 4．4．3 專利證券化價值評估指標體系的構(gòu)建第五章專利狀況綜合評價及實證研究 5．1區(qū)域?qū)＠麪顩r綜合評價 5．1．1 主成分分析法原理 5．1．2 基于主成分分析的區(qū)域?qū)＠麪顩r綜合評價 5．2 區(qū)域?qū)＠Ｗo水平綜合評價 5．2．1 數(shù)據(jù)來源 5．2．2 基于主成分分析的區(qū)域?qū)＠Ｗo水平綜合評價 5．3 企業(yè)專利狀況綜合評價 5．3．1 層次分析法原理 5．3．2 模糊綜合評價法原理 5．3．3 基于模糊綜合評價的企業(yè)專利狀況綜合評價 5．4 高校專利狀況綜合評價 5．4．1 指標體系與數(shù)據(jù)來源 5．4．2 基于模糊綜合評價的高校專利狀況綜合評價 5．5 專利證券化價值評估研究 5．5．1 基于Tropsis的改進灰色關(guān)聯(lián)度法 5．5．2 基于Topsis改進灰色關(guān)聯(lián)度法的專利證券化價值評估第六章專利綜合實力對經(jīng)濟發(fā)展的貢獻研究 6．1 專利綜合實力與經(jīng)濟發(fā)展的相關(guān)研究 6．1．1 專利綜合實力的界定與影響因素 6．1．2 專利綜合實力與經(jīng)濟發(fā)展的內(nèi)在作用機制 6．2專利綜合實力測度指標體系 6．2．1 專利綜合實力測度指標體系構(gòu)建 6．2．2 評價指標解析 6．3 專利綜合實力測度實證分析 6．3．1 指標權(quán)重確定 6．3．2 中部地區(qū)專利綜合實力測度及對比 6．4 專利綜合實力與經(jīng)濟增長內(nèi)在關(guān)系實證研究 6．4．1 中部地區(qū)專利綜合實力概述 6．4．2 中部地區(qū)經(jīng)濟發(fā)展狀況概述 6．4．3 研究方法選取 6．4．4 研究假說 6．4．5 全模型構(gòu)建 6．4．6 模型估計 6．5 結(jié)論與建議參考文獻附錄A 企業(yè)專利評價專家咨詢表附錄B 專利證券化價值評估調(diào)查問卷后記