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大豆育種的分子標記系統(tǒng)最新進展(英文版)

大豆育種的分子標記系統(tǒng)最新進展(英文版)

定 價:¥120.00

作 者: 李文彬,David A.Lightfoot 著 Wenbin Li,David A.Lightfoot 編
出版社: 科學出版社
叢編項:
標 簽: 農(nóng)學(農(nóng)藝學)

ISBN: 9787030346780 出版時間: 2012-01-01 包裝: 平裝
開本: 16開 頁數(shù): 255 字數(shù):  

內(nèi)容簡介

  Wenbin Li、DavidA.Lightfoot所著的《大豆育種的分子標記系統(tǒng)最新進展》系統(tǒng)地介紹了各種類型分子標記的發(fā)展概況和開發(fā)技術,QTL分析和分子輔助育種的基本原理,闡述了大豆產(chǎn)量性狀、品質性狀、抗病蟲性狀、動態(tài)發(fā)育性狀分子標記和QTL的最新研究進展及大豆分子設計育種的基本設想及展望。本書反映了近年分子標記在大豆遺傳改良方面獲得的成果。

作者簡介

暫缺《大豆育種的分子標記系統(tǒng)最新進展(英文版)》作者簡介

圖書目錄

Acknowledgement
Preface
Chapter 1 Essential principles of molecular marker and quantitative trait loci associations
Chapter 2 Method development for identifying functional markers in the soybean genome
Chapter 3 Map development and marker-assisted selection for oligogenic and polygeneic traits
Chapter 4 QTL analysis of fungal disease resistance
Chapter 5 Identification ofloci for resistance to insects and nematodes,
Chapter 6 QTL analysis for seed quality traits
Chapter 7 Seed yield and component trait loci
Chapter 8 Loci underlying soil edaphic, physiological and developmental traits
Chapter 9 Dynamic QTL analysis of major quantitative traits
Chapter 10 Molecular mapping and breeding for biotic stress resistance
Colored Figures

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