ATC 001電感耦合等離子體發(fā)射光譜分析技術(shù)

定　價(jià)：￥43.00

作　者：	鄭國(guó)經(jīng) 編著
出版社：	中國(guó)標(biāo)準(zhǔn)出版社
叢編項(xiàng)：
標(biāo)　簽：	金屬學(xué)與金屬工藝

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ISBN：	9787506663274	出版時(shí)間：	2011-09-01	包裝：	平裝
開本：	16開	頁(yè)數(shù)：	211	字?jǐn)?shù)：

內(nèi)容簡(jiǎn)介

　　“全國(guó)分析檢測(cè)人員技術(shù)能力培訓(xùn)與考核體系”是國(guó)家科技基礎(chǔ)條件平臺(tái)建設(shè)的一項(xiàng)重點(diǎn)成果。該體系統(tǒng)一、規(guī)范了分析檢測(cè)人員分析檢測(cè)技術(shù)的培訓(xùn)與考核標(biāo)準(zhǔn)。對(duì)培養(yǎng)專業(yè)化人才、提高分析檢測(cè)人員的技術(shù)能力和素質(zhì)、確保實(shí)驗(yàn)室分析檢測(cè)數(shù)據(jù)的可靠性和準(zhǔn)確性具有重要的意義。為了更好地推廣和運(yùn)行“全國(guó)分析檢測(cè)人員能力培訓(xùn)與考核體系”，由中華人民共和國(guó)科學(xué)技術(shù)部、國(guó)家認(rèn)證認(rèn)可監(jiān)督管理委員會(huì)等部門牽頭成立了“全國(guó)分析檢測(cè)人員能力培訓(xùn)委員會(huì)”（簡(jiǎn)稱NTC），負(fù)責(zé)對(duì)分析檢測(cè)人員技術(shù)能力的培訓(xùn)與考核工作，委員會(huì)秘書處統(tǒng)一組織了《全國(guó)分析檢測(cè)人員能力培訓(xùn)委員會(huì)（NTC）系列培訓(xùn)教材》（以下簡(jiǎn)稱“NTC系列培訓(xùn)教材”）的編寫工作。NTC擁有《NTC系列培訓(xùn)教材》的著作權(quán)，并將其作為NTC的唯一指定教材，將專有出版權(quán)授予中國(guó)質(zhì)檢出版社出版。《NTC系列培訓(xùn)教材》包括ATC化學(xué)類分析測(cè)試技術(shù)、ATP物理類檢測(cè)技術(shù)、ATM力學(xué)性能測(cè)試類和ATQ產(chǎn)品質(zhì)量特性類檢測(cè)技術(shù)共四類技術(shù)的培訓(xùn)教材，其中每項(xiàng)分析檢測(cè)技術(shù)由基礎(chǔ)理論知識(shí)、儀器與操作、標(biāo)準(zhǔn)方法與應(yīng)用以及數(shù)據(jù)處理四個(gè)部分組成。組成了符合體系要求、架構(gòu)合理、全面的系列大型分析檢測(cè)技術(shù)培訓(xùn)教材?！禢TC系列培訓(xùn)教材》的出版，對(duì)統(tǒng)一、規(guī)范和提高NTC技術(shù)的培訓(xùn)內(nèi)容和水平，幫助分析檢測(cè)人員順利完成相關(guān)技術(shù)的學(xué)習(xí)和考核具有重要的意義。鄭國(guó)經(jīng)主編的《ATC001電感耦合等離子體原子發(fā)射光譜分析技術(shù)》系《NTC系列培訓(xùn)教材》之一。依據(jù)全國(guó)分析檢測(cè)人員能力培訓(xùn)委員會(huì)《ATC001電感耦合等離子體原子發(fā)射光譜分析技術(shù)考核與培訓(xùn)大綱》編寫，包括電感耦合等離子體原子發(fā)射光譜（ICP-AES）分析技術(shù)的基礎(chǔ)理論知識(shí)、儀器設(shè)備與操作、標(biāo)準(zhǔn)方法與應(yīng)用以及分析結(jié)果的數(shù)據(jù)處理四個(gè)部分。本書涵蓋了從事ICP-AES分析技術(shù)工作的檢測(cè)人員需要掌握的理論、儀器和實(shí)踐的基本知識(shí)，并附有思考題，可作為培訓(xùn)分析檢測(cè)人員的教材?？晒┢髽I(yè)、科研以及商品檢驗(yàn)部門分析檢驗(yàn)人員參考和使用，也可供相關(guān)院校師生參考。

作者簡(jiǎn)介

暫缺《ATC 001電感耦合等離子體發(fā)射光譜分析技術(shù)》作者簡(jiǎn)介

圖書目錄

1 基礎(chǔ)理論知識(shí) 1.1 概況 1.1.1 ICP-AES分析技術(shù)的發(fā)展 1.1.2 等離子體發(fā)射光譜的概念 1.1.3 ICP-AES法的分析特性和應(yīng)用范圍 1.2 原子發(fā)射光譜基礎(chǔ)知識(shí) 1.2.1 光譜 1.2.2 原子光譜 1.2.3 原子發(fā)射光譜的基本術(shù)語(yǔ) 1.2.4 原子發(fā)射光譜定性分析 1.2.5 原子發(fā)射光譜定量分析 1.3 ICP-AES法的基本原理 1.3.1 ICP裝置的原理 1.3.2 ICP-AES分析的主要干擾及其消除 1.3.3 ICP分析中的特征值--靈敏度、檢出限和定量限 1.3.4 ICP-AES分析性能小結(jié) 1.4 ICP-AES分析技術(shù)的發(fā)展 1.4.1 ICP-AES儀器的發(fā)展 1.4.2 檢出限和儀器測(cè)量精密度不斷改善和提高 1.4.3 全譜直讀型儀器的發(fā)展 1.4.4 ICP-AES分析技術(shù)的進(jìn)展 1.5 參考資料 1.6 思考題2 ICP-AES分析儀器設(shè)備與操作 2.1 ICP-AES光譜儀的組成 2.1.1 高頻發(fā)生器 2.1.2 炬管、工作氣體和氣路 2.1.3 進(jìn)樣系統(tǒng) 2.1.4 光學(xué)系統(tǒng) 2.1.5 測(cè)量系統(tǒng) 2.1.6 計(jì)算機(jī)系統(tǒng) 2.2 ICP儀器工作參數(shù)的設(shè)定 2.2.1 分析譜線的特性 2.2.2 工作氣體流速 2.2.3 觀測(cè)高度 2.2.4 高頻發(fā)生器功率 2.2.5 測(cè)定條件的優(yōu)化 2.2.6 常用工作參數(shù) 2.3 ICP-AES光譜儀的使用 2.3.1 日常分析操作 2.3.2 ICP光譜儀使用要求及注意事項(xiàng) 2.4 ICP光譜儀的維護(hù) 2.5 ICP光譜儀器的校準(zhǔn)和期間核查 2.5.1 儀器校準(zhǔn) 2.5.2 期間核查 2.6 思考題3 ICP-AES分析方法標(biāo)準(zhǔn)與應(yīng)用 3.1 ICP-AES分析方法通則(示例) 3.2 ICP-AES分析的樣品處理 3.2.1 分析樣品的取制樣 3.2.2 分析試液的制備 3.3 標(biāo)準(zhǔn)樣品與標(biāo)準(zhǔn)工作曲線 3.3.1 標(biāo)準(zhǔn)樣品 3.3.2 標(biāo)準(zhǔn)溶液與標(biāo)準(zhǔn)方法 3.3.3 標(biāo)準(zhǔn)工作曲線 3.4 ICP-AES分析方法標(biāo)準(zhǔn)與應(yīng)用實(shí)例 3.4.1 在鋼鐵分析中的應(yīng)用 3.4.2 在鐵礦石及冶金物料分析上的應(yīng)用 3.4.3 在有色金屬材料分析上的應(yīng)用 3.4.4 在巖礦、土壤及地球化學(xué)樣品分析上的應(yīng)用 3.4.5 在煤焦產(chǎn)品分析上的應(yīng)用 3.4.6 在水質(zhì)及環(huán)境領(lǐng)域分析上的應(yīng)用 3.4.7 在食品(包括動(dòng)植物、中草藥樣品)分析上的應(yīng)用 3.4.8 在石油、化工分析上的應(yīng)用 3.4.9 在核工業(yè)分析上的應(yīng)用 3.4.10 在其他領(lǐng)域的應(yīng)用 3.5 參考資料 3.6 思考題4 ICP光譜分析結(jié)果的數(shù)據(jù)處理 4.1 概述 4.1.1 分析數(shù)據(jù)的特點(diǎn) 4.1.2 光譜分析數(shù)據(jù)的特點(diǎn) 4.1.3 光譜分析數(shù)據(jù)的統(tǒng)計(jì)處理內(nèi)容 4.2 光譜分析結(jié)果的誤差分析 4.2.1 誤差分析的基本概念 4.2.2 光譜分析誤差的來源 4.2.3 光譜干擾對(duì)測(cè)定誤差的影響及其干擾校正 4.3 光譜分析數(shù)據(jù)的統(tǒng)計(jì)處理 4.3.1 評(píng)價(jià)測(cè)定結(jié)果常用的幾個(gè)術(shù)語(yǔ) 4.3.2 數(shù)據(jù)可靠性檢驗(yàn) 4.3.3 分析數(shù)據(jù)的數(shù)字修約規(guī)則 4.3.4 校正曲線的回歸分析 4.4 光譜分析中的不確定度 4.4.1 化學(xué)分析中的不確定度問題 4.4.2 不確定度的定義 4.4.3 不確定度的分類及其表示方法 4.4.4 各類不確定度的計(jì)算方法 4.4.5 估計(jì)不確定度的方法 4.4.6 ICP光譜分析中不確定度的計(jì)算 4.5 參考資料 4.6 思考題附錄1 常用單元素標(biāo)準(zhǔn)溶液配制方法附錄2 常用ICP發(fā)射光譜分析譜線與檢出限表附錄3 典型型號(hào)ICP光譜儀器示例附錄4 標(biāo)準(zhǔn)代碼表附錄5 ICP-AES光譜分析標(biāo)準(zhǔn)及規(guī)程目錄