近代物理實(shí)驗(yàn)

1 誤差理論與數(shù)據(jù)分析
1.1 物理實(shí)驗(yàn)中的測量誤差
1.1.1 測量
1.1.2 測量誤差的定義及表示法
1.1.3 誤差的分類
1.2 概率理論與數(shù)理統(tǒng)計基礎(chǔ)
1.2.1 隨機(jī)事件和隨機(jī)變量
1.2.2 概率和分布函數(shù)
1.2.3 隨機(jī)變量的數(shù)字特征
1.2.4 幾種常見的概率分布及特征量
1.3 隨機(jī)誤差的特征與處理方法
1.3.1 隨機(jī)誤差的分布
1.3.2 測量的標(biāo)準(zhǔn)偏差
1.3.3 測量不確定度
1.4 一元線性回歸分析
1.4.1 最小二乘法原理
1.4.2 一元線性回歸
2 原子與分子物理實(shí)驗(yàn)
2.0 緒言
2.1 密立根油滴實(shí)驗(yàn)
2.2 弗蘭克-赫茲實(shí)驗(yàn)
2.3 氫（氘）原子光譜
2.4 鈉原子光譜
2.5 光譜定性分析
2.6 激光喇曼光譜
2.7 塞曼效應(yīng)
3 核物理實(shí)驗(yàn)
3.0 緒言
3.0.1 防輻射安全知識
3.0.2 常用的輻射量及其單位
3.0.3 核物理實(shí)驗(yàn)的一般實(shí)驗(yàn)方框圖及常用儀器簡介
3.1 蓋革一米勒計數(shù)管的特性及放射性衰變的統(tǒng)計規(guī)律
3.2 符合法測定放射源絕對活度
3.3 γ能譜的測量
3.4 驗(yàn)證快速電子的動量與動能的相對論關(guān)系
3.5 穆斯堡爾效應(yīng)
4 磁共振技術(shù)
4.0 緒言
4.1 核磁共振
4.2 光泵磁共振實(shí)驗(yàn)
4.3 微波鐵磁共振
4.4 電子自旋共振實(shí)驗(yàn)
5 真空與薄膜技術(shù)
5.0 緒言
5 1 真空的獲得與測量
5.2 真空鍍膜與膜厚測量
5.3 直流濺射法制備金屬薄膜及表面電阻率測量
6 材料結(jié)構(gòu)分析技術(shù)
6.0 緒言
6.1 電子衍射實(shí)驗(yàn)
6.2 X射線衍射物相分析
6.3 橢圓偏振儀測量薄膜的厚度和折射率
6.4 掃描隧道顯微鏡
6.5 原子力顯微鏡
7 低溫物性測量
7.0 緒言
7.0.1 低溫的獲得與測量
7.0.2 高溫超導(dǎo)材料
7.1 高溫超導(dǎo)體超導(dǎo)轉(zhuǎn)變溫度的測量
7.2 高溫超導(dǎo)體磁懸浮力測量
7.3 高溫超導(dǎo)體YBCO制備實(shí)驗(yàn)
7.4 變溫霍爾效應(yīng)實(shí)驗(yàn)
8 激光、全息技術(shù)與光學(xué)測量
8.0 緒言
8.1 激光器特性及其特性測量
8.2 電光調(diào)Q脈沖YAG激光器
8.3 He-Ne激光器的模式測量
8.4 全息技術(shù)
8.5 聲光效應(yīng)與光拍法測光的速度
8.6 法拉第效應(yīng)
8.7 單光子計數(shù)
8.8 WGX系列光纖通信實(shí)驗(yàn)
9 微波技術(shù)
9.0 緒言
9.1 微波基本參數(shù)的測量
9.2 用微波方法測量介質(zhì)介電常數(shù)
10 聲學(xué)實(shí)驗(yàn)
10.0 緒言
10.1 噪聲測量與頻譜分析
10.2 超聲波探傷和聲速測量
附錄Ⅰ 中華人民共和國法定計量單位
附錄Ⅱ 基本物理常量表