實(shí)驗(yàn)力學(xué)

定　價(jià)：￥49.80

作　者：	戴福隆等主編
出版社：	清華大學(xué)出版社
叢編項(xiàng)：	普通高等教育“十一五”國(guó)家級(jí)規(guī)劃教材·高等院校力學(xué)教材
標(biāo)　簽：	力學(xué)

購(gòu)買這本書(shū)可以去

ISBN：	9787302225706	出版時(shí)間：	2010-07-01	包裝：	平裝
開(kāi)本：	16開(kāi)	頁(yè)數(shù)：	490	字?jǐn)?shù)：

內(nèi)容簡(jiǎn)介

　　《實(shí)驗(yàn)力學(xué)》全面、系統(tǒng)地闡述了實(shí)驗(yàn)力學(xué)的各種方法的基本原理、實(shí)驗(yàn)技術(shù)和應(yīng)用。全書(shū)分為應(yīng)變電測(cè)與傳感器技術(shù)和超聲波檢測(cè)新技術(shù)、光學(xué)測(cè)試技術(shù)兩篇。第1篇包含應(yīng)變電測(cè)和傳感器技術(shù)基本原理、應(yīng)變計(jì)、傳感器、測(cè)試儀器、靜、動(dòng)態(tài)應(yīng)力應(yīng)變測(cè)量技術(shù)、特殊條件下的應(yīng)力測(cè)量技術(shù)和測(cè)量數(shù)據(jù)處理方法、超聲波檢測(cè)新技術(shù)等內(nèi)容。第2篇包括光學(xué)基礎(chǔ)知識(shí)、光彈性的基本原理和方法、全息干涉法、全息光彈性法、云紋法、云紋干涉法、散斑干涉法和數(shù)字圖像相關(guān)方法及其應(yīng)用等內(nèi)容?！秾?shí)驗(yàn)力學(xué)》可供高等院校工程力學(xué)、航空航天、機(jī)械、土建等專業(yè)本科生和研究生作為教材和參考書(shū)，亦可供有關(guān)專業(yè)教師和科研人員參考。

作者簡(jiǎn)介

　　戴福?。?932.5－）1953年7月畢業(yè)于南京工學(xué)院土木工程系。畢業(yè)后在清華大學(xué)任教，1984年晉升教授，1985為博士生導(dǎo)師。曾出訪并任美國(guó)弗吉尼亞工學(xué)院、美國(guó)韋恩州立大學(xué)、新加坡南洋理工大學(xué)等院?？妥淌?。主要從事激光技術(shù)和近代光學(xué)為主要技術(shù)手段的現(xiàn)代光測(cè)力學(xué)研究。在全息光彈法的測(cè)量方法和技術(shù)、云紋干涉法的實(shí)驗(yàn)理論、方法、實(shí)驗(yàn)技術(shù)以及在細(xì)微觀力學(xué)、材料科學(xué)和微電子封裝等領(lǐng)域取得重要研究進(jìn)展。相關(guān)研究成果獲得1982和1997年國(guó)家發(fā)明三等獎(jiǎng)，1989年國(guó)家發(fā)明四等獎(jiǎng)，l988、l995和1997年國(guó)家教委科技進(jìn)步二等獎(jiǎng)，1997年國(guó)防科工委科技進(jìn)步二等獎(jiǎng)，以及1979年全國(guó)科學(xué)大會(huì)獎(jiǎng)。發(fā)表論文200余篇，論著7種。先后擔(dān)任中國(guó)力學(xué)學(xué)會(huì)第二、三、五、六屆理事會(huì)理事，實(shí)驗(yàn)力學(xué)專業(yè)委員會(huì)第一、二、三屆副主任委員和第四、五屆主任委員，中國(guó)《力學(xué)學(xué)報(bào)》第四、五、六屆編委會(huì)常務(wù)編委，《實(shí)驗(yàn)力學(xué)》學(xué)報(bào)副主編、主編。沈觀林（1935.1 0－）1953—1957年清華大學(xué)土木系工業(yè)與民用建筑專業(yè)學(xué)習(xí)，1957－1959年清華大學(xué)工程力學(xué)研究班學(xué)習(xí)，畢業(yè)后在工程力學(xué)系任教，清華大學(xué)教授。長(zhǎng)期從事固體力學(xué)、實(shí)驗(yàn)力學(xué)和復(fù)合材料力學(xué)教學(xué)和科研，曾獲國(guó)家教委科技進(jìn)步二等獎(jiǎng)（1993），參編的《實(shí)驗(yàn)應(yīng)力分析》和《振動(dòng)量測(cè)與應(yīng)變電測(cè)基礎(chǔ)》分別獲清華大學(xué)優(yōu)秀教材二等獎(jiǎng)；編著《復(fù)合材料力學(xué)》（1996），新主編《復(fù)合材料力學(xué)》教材（2006），參編《應(yīng)變電測(cè)與傳感技術(shù)》專著（1991）和《應(yīng)變電測(cè)與傳感器》教材（1999）等；曾獲清華大學(xué)教學(xué)成果二等獎(jiǎng)（復(fù)合材料力學(xué)課程）（1996），清華大學(xué)實(shí)驗(yàn)技術(shù)成果二等獎(jiǎng)、三等獎(jiǎng)多項(xiàng)（1994—1996）；負(fù)責(zé)起草《電阻應(yīng)變計(jì)》國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)（GB／T13992—1992）主編標(biāo)準(zhǔn)培訓(xùn)班講義；歷任全國(guó)應(yīng)變計(jì)及其應(yīng)用技術(shù)專業(yè)委員會(huì)副主任委員，現(xiàn)任應(yīng)力測(cè)試專業(yè)委員會(huì)委員：1986年以來(lái)先后在專業(yè)核心刊物、重要刊物及各種學(xué)術(shù)會(huì)議上發(fā)表學(xué)術(shù)論文六十余篇。謝惠民（1965.4-）分別于1986，1989，在北京理工大學(xué)獲得固體力學(xué)專業(yè)學(xué)士和碩士學(xué)位，于1993年3月在清華大學(xué)獲固體力學(xué)專業(yè)博士學(xué)位，在博士畢業(yè)后留校任教，一直從事實(shí)驗(yàn)力學(xué)的教學(xué)和科研工作?，F(xiàn)任清華大學(xué)教授、博士生導(dǎo)師、固體力學(xué)研、究所副所長(zhǎng)，教育部應(yīng)用力學(xué)重點(diǎn)實(shí)驗(yàn)室副主任：Optics and Lasers in Engineering副主編（中國(guó)區(qū)）：Strain編委；The Journal of Strain Anal ysjs for Eng. Design編委；中國(guó)力學(xué)學(xué)會(huì)理事；中國(guó)力學(xué)學(xué)會(huì)實(shí)驗(yàn)力學(xué)專業(yè)委員會(huì)主任委員。近期一直從事實(shí)驗(yàn)力學(xué)測(cè)試方法和技術(shù)及其應(yīng)用研究。近期主要研究與開(kāi)發(fā)近代實(shí)驗(yàn)力學(xué)方法，作為項(xiàng)目負(fù)責(zé)人和學(xué)術(shù)骨干承擔(dān)國(guó)家自然基金和部級(jí)項(xiàng)目10余項(xiàng)。相關(guān)研究成果已發(fā)表于國(guó)內(nèi)外重要學(xué)術(shù)刊物，共計(jì)90余篇。先后獲得了多項(xiàng)學(xué)術(shù)獎(jiǎng)勵(lì)，包括：國(guó)家發(fā)明三等獎(jiǎng)（1997，排名第二）、教育部技術(shù)發(fā)明一等獎(jiǎng)（2007，排名第二）。2005年入選教育部新世紀(jì)優(yōu)秀人才支持計(jì)劃，2006年獲得國(guó)家杰出青年科學(xué)基金。

圖書(shū)目錄

第1篇應(yīng)變電測(cè)與傳感器技術(shù)和超聲波檢測(cè)新技術(shù)
第1章概論
1.1 實(shí)驗(yàn)力學(xué)應(yīng)變電測(cè)技術(shù)發(fā)展概況
1.2 應(yīng)變電測(cè)與傳感器技術(shù)的特點(diǎn)
1.3 應(yīng)變電測(cè)與傳感器技術(shù)的各種應(yīng)用
第2章電阻應(yīng)變計(jì)
2.1 電阻應(yīng)變計(jì)的基本構(gòu)造和工作原理
2.2 電阻應(yīng)變計(jì)的各項(xiàng)工作特性
2.3 電阻應(yīng)變計(jì)的種類
2.4 電阻應(yīng)變計(jì)選擇和粘貼使用方法
2.5 其他應(yīng)變計(jì)簡(jiǎn)介
第3章應(yīng)變測(cè)量?jī)x器
3.1 引言
3.2 電橋測(cè)量電路
3.3 應(yīng)變計(jì)各種接橋方法
3.4 應(yīng)變測(cè)量?jī)x器的種類
3.5 電阻應(yīng)變儀的基本工作原理
3.6 電阻應(yīng)變儀的技術(shù)指標(biāo)及其檢定
3.7 數(shù)字應(yīng)變測(cè)量系統(tǒng)及數(shù)據(jù)采集系統(tǒng)
第4章靜、動(dòng)態(tài)應(yīng)力應(yīng)變測(cè)量技術(shù)
4.1 靜態(tài)應(yīng)力應(yīng)變測(cè)量技術(shù)
4.2 動(dòng)態(tài)應(yīng)力應(yīng)變測(cè)量技術(shù)
4.3 數(shù)字信號(hào)處理
第5章特殊條件下的應(yīng)力測(cè)量技術(shù)
5.1 高低溫條件下的應(yīng)力測(cè)量技術(shù)
5.2 高壓液下的應(yīng)力測(cè)量技術(shù)
5.3 運(yùn)動(dòng)構(gòu)件應(yīng)力測(cè)量技術(shù)
5.4 殘余應(yīng)力測(cè)量
5.5 應(yīng)變電測(cè)方法在其他領(lǐng)域中的應(yīng)用技術(shù)
第6章傳感器
6.1 傳感器的一般特性
6.2 應(yīng)變計(jì)式傳感器的基本原理與設(shè)計(jì)
6.3 各種應(yīng)變計(jì)式傳感器的構(gòu)造和特性
6.4 壓阻式傳感器
6.5 壓電式傳感器
6.6 電容式傳感器
6.7 電感式傳感器
第7章測(cè)量數(shù)據(jù)處理與表示
7.1 概述
7.2 基本概念
7.3 概率統(tǒng)計(jì)的基礎(chǔ)知識(shí)
7.4 測(cè)量?jī)x器的誤差、準(zhǔn)確度和不確定度
7.5 標(biāo)準(zhǔn)不確定度的評(píng)定
7.6 異常值
7.7 系統(tǒng)誤差
7.8 最小二乘法
附錄
第8章超聲波檢測(cè)新技術(shù)
8.1 概述
8.2 超聲波
8.3 超聲波的傳播
8.4 超聲導(dǎo)波檢測(cè)新技術(shù)
8.5 超聲波換能器
8.6 超聲波檢測(cè)新技術(shù)的應(yīng)用實(shí)例
第1篇參考文獻(xiàn)
第2篇光學(xué)測(cè)試技術(shù)
第9章光學(xué)基礎(chǔ)知識(shí)
9.1 光波
9.2 光波的疊加
9.3 光波的干涉
9.4 光波產(chǎn)生干涉的條件
9.5 楊氏干涉實(shí)驗(yàn)
9.6 光的衍射惠更斯一菲涅耳原理基爾霍夫衍射公式
9.7 菲涅耳衍射和夫瑯禾費(fèi)衍射
9.8 狹縫衍射
9.9 光的空間頻率
9.1 0傅里葉變換及其性質(zhì)
9.1 1透鏡的傅里葉變換特性
9.1 2空間濾波器及其應(yīng)用
9.1 3光的偏振
9.1 4激光
第10章光彈性的基本原理和方法
10.1 平面問(wèn)題的光力定律及基本測(cè)量裝置
10.2 等色線的特性分析
10.3 等傾線的特性分析
10.4 圓偏振光干涉裝置及其應(yīng)用
10.5 邊界應(yīng)力的確定及內(nèi)部應(yīng)力的計(jì)算
10.6 一般光彈儀中的若干問(wèn)題
10.7 三向光彈性的一般方法
10.8 散光法
10.9 光彈性貼片法
第11章全息干涉法
11.1 全息照相
11.2 兩次曝光法測(cè)定位移
11.3 位移場(chǎng)的定量分析
11.4 激光和相干性
第12章全息光彈性
12.1 單次曝光測(cè)等差線
12.2 兩次曝光測(cè)定等和線
12.3 等和線及等差線的分離
12.4 圖像全息光彈性
第13章云紋法
13.1 云紋法的基本原理
13.2 二維位移場(chǎng)位移及應(yīng)變的測(cè)定
13.3 條紋級(jí)數(shù)的確定及確定應(yīng)變的正負(fù)
13.4 提高云紋法測(cè)量精度的幾種方法
13.5 影子云紋法
13.6 反射云紋法
13.7 高分辨率顯微鏡掃描云紋法
第14章云紋干涉法
14.1 衍射光柵
14.2 面內(nèi)位移場(chǎng)
14.3 三維位移場(chǎng)
14.4 應(yīng)變場(chǎng)
14.5 三維位移導(dǎo)數(shù)場(chǎng)
14.6 彎曲板的曲率場(chǎng)
14.7 高溫云紋干涉技術(shù)
第15章散斑干涉法
15.1 散斑的形成
15.2 散斑的記錄
15.3 雙曝光散斑圖的分析
15.4 散斑照相法的應(yīng)用
15.5 散斑照相法測(cè)量的范圍
15.6 雙光束散斑干涉法
15.7 錯(cuò)位散斑干涉法
15.8 電子散斑干涉術(shù)
15.9 數(shù)字散斑干涉術(shù)
15.10 電子散斑測(cè)量變形的幾種典型的光路布置
15.11 電子散斑形貌測(cè)量術(shù)
15.12 電子散斑振動(dòng)測(cè)量術(shù)
15.13 使用光纖的電子散斑干涉光路
15.14 電子散斑干涉中的相移技術(shù)
第16章數(shù)字圖像相關(guān)方法
16.1 引言
16.2 數(shù)字圖像相關(guān)的基本原理
16.3 相關(guān)函數(shù)的幾種數(shù)學(xué)形式
16.4 提高數(shù)字圖像相關(guān)法中計(jì)算速度的方法
16.5 數(shù)字圖像相關(guān)中的亞像素位移測(cè)量算法
16.6 全場(chǎng)應(yīng)變場(chǎng)測(cè)量方法
16.7 應(yīng)用實(shí)例
第2篇參考文獻(xiàn)