粒子探測技術(shù)

總序前言第1章 粒子簡介1.1 構(gòu)成世界的基本粒子1.2 粒子的分類1.3 粒子的壽命1.4 重離子參考文獻習(xí)題第2章 粒子探測的物理基礎(chǔ)2.1 帶電粒子和物質(zhì)的相互作用2.1.1 電離和激發(fā)能量損失2.1.2 多次散射2.1.3 輻射能量損失2.1.4 切倫科夫輻射2.1.5 穿越輻射2.1.6 電磁相互作用引起的能量損失2.2 光子和物質(zhì)的相互作用2.2.1 光電效應(yīng)2.2.2 康普頓效應(yīng)2.2.3 對產(chǎn)生2.2.4 光子總截面2.2.5 電磁簇射2.3 強子和物質(zhì)的強相互作用2.3.1 強相互作用簡介2.3.2 中子與物質(zhì)的相互作用參考文獻習(xí)題第3章 粒子探測中的統(tǒng)計規(guī)律3.1 誤差基本概念3.1.1 誤差介紹3.1.2 有效數(shù)字3.1.3 粒子探測中的統(tǒng)計誤差3.1.4 算術(shù)平均值和真實值3.2 統(tǒng)計分布3.2.1 二項式分布3.2.2 泊松分布3.2.3 高斯分布3.3 統(tǒng)計誤差3.3.1 標準誤差3.3.2 標準誤差的物理意義3.3.3 計數(shù)的統(tǒng)計誤差3.3.4 誤差演算公式3.3.5 非等精度測量3.4 測量數(shù)據(jù)的審查3.5 計數(shù)時間或源強的選擇3.6 電離過程中的統(tǒng)計漲落和能量分辨率3.6.1 能量分辨率3.6.2 法諾因子修正參考文獻習(xí)題第4章 氣體探測器4.1 氣體探測器的測量原理4.1.1 帶電粒子在氣體中的能量損失和統(tǒng)計規(guī)律4.1.2 產(chǎn)生電子一離子對的能量4.1.3 電子和離子在氣體中的運動4.1.4 電荷收集過程和工作模式4.2 三種基本的氣體探測器4.2.1 電離室4.2.2 正比計數(shù)器4.2.3 G-M計數(shù)器4.3 氣體多絲室4.3.1 多絲正比室4.3.2 多絲漂移室4.3.3 時間投影室4.4 平行板電極型氣體探測器4.4.1 火花室和平行板室4.4.2 電阻板室和多氣隙電阻板4.5 微電極型氣體探測器4.5.1 微電極氣體探測器的工作原理和特性4.5.2 微電極氣體探測器的性能參數(shù)4.5.3 微電極型氣體探測器的應(yīng)用4.5.4 氣體探測器的工作壽命參考文獻習(xí)題第5章 半導(dǎo)體探測器5.1 半導(dǎo)體探測器的工作原理5.1.1 半導(dǎo)體的基本知識5.1.2 PN結(jié)5.1.3 半導(dǎo)體探測器的工作原理5.2 半導(dǎo)體探測器的種類5.2.1 PN結(jié)型半導(dǎo)體探測器5.2.2 鋰漂移型半導(dǎo)體探測器5.2.3 高純鍺半導(dǎo)體探測器5.2.4 全耗盡型半導(dǎo)體探測器5.2.5 化合物半導(dǎo)體探測器5.2.6 特殊類型的半導(dǎo)體探測器5.3 徑跡測量的半導(dǎo)體探測器5.3.1 硅微條探測器5.3.2 電荷耦合器件5.3.3 硅像素探測器5.3.4 硅漂移探測器5.4 半導(dǎo)體探測器的主要參數(shù)5.4.1 窗厚5.4.2 靈敏區(qū)厚度5.4.3 結(jié)電容5.4.4 正反向電流特性5.4.5 能量分辨率和線性5.4.6 位置分辨5.4.7 脈沖波形和上升時間5.4.8 輻照效應(yīng)5.4.9 信號讀出與電荷靈敏放大器5.5 半導(dǎo)體探測器的應(yīng)用5.5.1 在高能物理中的應(yīng)用5.5.2 在空間物理和宇宙線實驗中的應(yīng)用5.5.3 在核醫(yī)學(xué)中的應(yīng)用參考文獻思考題習(xí)題第6章 閃爍探測器第7章 切倫科夫計數(shù)器與穿越輻射探測器第8章 粒子探測系統(tǒng)附錄