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當(dāng)前位置: 首頁出版圖書科學(xué)技術(shù)工業(yè)技術(shù)無線電電子學(xué)、電信技術(shù)集成電路系統(tǒng)設(shè)計(jì)、驗(yàn)證與測試

集成電路系統(tǒng)設(shè)計(jì)、驗(yàn)證與測試

集成電路系統(tǒng)設(shè)計(jì)、驗(yàn)證與測試

定 價:¥62.00

作 者: (美國)Louis Scheffer 等著;陳力穎、王猛 譯
出版社: 科學(xué)出版社
叢編項(xiàng): 集成電路EDA技術(shù)
標(biāo) 簽: 集成電路

ISBN: 9787030214904 出版時間: 2008-01-01 包裝: 平裝
開本: 16 頁數(shù): 475 字?jǐn)?shù):  

內(nèi)容簡介

  本書是“集成電路EDA技術(shù)”叢書之一,內(nèi)容涵蓋了IC設(shè)計(jì)過程和EDA,系統(tǒng)級設(shè)計(jì)方法與工具,系統(tǒng)級規(guī)范與建模語言,SoC的IP設(shè)計(jì),MPSoC設(shè)計(jì)的性能驗(yàn)證方法,處理器建模與設(shè)計(jì)工具,嵌入式軟件建模與設(shè)計(jì),設(shè)計(jì)與驗(yàn)證語言,數(shù)字仿真,并詳細(xì)分析了基于聲明的驗(yàn)證,DFT,而且專門探討了ATPG,以及模擬和混合信號測試等,本書還為IC測試提供了方便而全面的參考。本書可作為從事電子科學(xué)與技術(shù)、微電子學(xué)與固體電子學(xué)以及集成電路工程的技術(shù)人員和科研人員即以高等院校師生的常備參考書。

作者簡介

暫缺《集成電路系統(tǒng)設(shè)計(jì)、驗(yàn)證與測試》作者簡介

圖書目錄

第1部分 介紹
第1章 引言
第2章 IC設(shè)計(jì)流程和EDA
第2部分 系統(tǒng)級設(shè)計(jì)
第3章 系統(tǒng)級設(shè)計(jì)中的工具和方法
第4章 系統(tǒng)級定義和建模語言
第5章 SoC基于模塊的設(shè)計(jì)和IP集成
第6章 多處理器的片上系統(tǒng)設(shè)計(jì)的性能評估方法
第7章 系統(tǒng)級電源管理
第8章 處理器建模和設(shè)計(jì)工具
第9章 嵌入式軟件建模和設(shè)計(jì)
第10章 利用性能指標(biāo)為IC設(shè)計(jì)選擇微處理器內(nèi)核
第11章 并行高層次綜合:一種高層次綜合的代碼轉(zhuǎn)換方法
第3部分 微機(jī)系結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì)
第12章 周期精準(zhǔn)系統(tǒng)級建模和性能評估
第13章 微機(jī)系結(jié)構(gòu)的功耗估計(jì)和優(yōu)化
第14章 設(shè)計(jì)規(guī)劃
第4部分 邏輯驗(yàn)證
第5部分 測試

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