納米技術(shù)標(biāo)準(zhǔn)匯編2

定　價：￥115.00

作　者：	全國納米技術(shù)標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)委員會、中國標(biāo)準(zhǔn)出版社第五編輯室
出版社：	中國標(biāo)準(zhǔn)出版社
叢編項：
標(biāo)　簽：	暫缺

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ISBN：	9787506648325	出版時間：	2008-03-01	包裝：
開本：	大16開	頁數(shù)：	335	字?jǐn)?shù)：

內(nèi)容簡介

　　本書是為滿足生產(chǎn)企業(yè)、監(jiān)督檢驗部門、行業(yè)管理部門、科研機(jī)構(gòu)等各級使用單位的需要所整理出版的。書中收集了截至2007年12月底批準(zhǔn)、發(fā)布的納米國家標(biāo)準(zhǔn)以及與納米技術(shù)密切相關(guān)的其他標(biāo)準(zhǔn)共27項，具體包括分析電鏡（AEM/EDS）納米薄標(biāo)樣通用規(guī)范、透射電子顯微鏡選區(qū)電子衍射分析方法、非晶納米晶軟磁合金交流磁性能測試方法、納米級長度的掃描電鏡測量方法通則、波譜法定性點分析電子探針顯微分析導(dǎo)則等。該書可供從事相關(guān)工作的人員作為參考用書使用。

作者簡介

暫缺《納米技術(shù)標(biāo)準(zhǔn)匯編2》作者簡介

圖書目錄

一、基礎(chǔ)標(biāo)準(zhǔn)
GB/T 17507-1998 電子顯微鏡X射線能譜分析生物薄標(biāo)樣通用技術(shù)條件
GB/T 18735-2002 分析電鏡（AEM/EDS）納米薄標(biāo)樣通用規(guī)范
GB/T 19619-2004 納米材料術(shù)語
二、產(chǎn)品標(biāo)準(zhǔn)
GB/T 19315-2003 非晶、納米晶軟磁合金帶材
GB/T 19588-2004 納米鎳粉
GB/T 19589-2004 納米氧化鋅
GB/T 19590-2004 超微細(xì)碳酸鈣
GB/T 19591-2004 納米二氧化鈦
三、試驗方法標(biāo)準(zhǔn)
GB/T 6524-2003 金屬粉末粒度分布的測量重力沉降光透法
GB/T 10722-2003 炭黑總表面積和外表面積的測定氮吸附法
GB 11847-1989 二氧化鈾粉末比表面積測定多點BET法
GB/T 12334-2001 金屬和其他非有機(jī)覆蓋層關(guān)于厚度測量的定義和一般規(guī)則
GB/T 13221-2004 納米粉末粒度分布的測定 X射線小角散射法
GB/T 13390-1992 金屬粉末比表面積的測定氮吸附法
GB/T 18873-2002 生物薄試樣的透射電子顯微鏡-X射線能譜定量分析通則
GB/T 18907-2002 透射電子顯微鏡選區(qū)電子衍射分析方法
GB/T 19077.1-2003 粒度分析激光衍射法
GB/T 19346-2003 非晶納米晶軟磁合金交流磁性能測試方法
GB/T 19587-2004 氣體吸附BET法測定固態(tài)物質(zhì)比表面積
GB/T 19627-2005 粒度分析光子相關(guān)光譜法
GB/T 19921-2005 硅拋光片表面顆粒測試方法
GB/T 19922-2005 硅片局部平整度非接觸式標(biāo)準(zhǔn)測試方法
GB/T 20099-2006 樣品制備粉末在液體中的分散方法
GB/T 20170.1-2006 稀土金屬及其化合物物理性能測試方法稀土化合物粒度分布的測定
GB/T 20170.2-2006 稀土金屬及其化合物物理性能測試方法稀土化合物比表面積的測定
GB/T 20307-2006 納米級長度的掃描電鏡測量方法通則
GB/T 20725-2006 波譜法定性點分析電子探針顯微分析導(dǎo)則