X射線熒光光譜儀

第一章　緒論
　第一節(jié)　X射線熒光光譜的產生及其特點
　第二節(jié)　X射線熒光分析技術的新應用
一、在生物、生命及環(huán)境領域中的應用
　　二、在材料及毒性物品監(jiān)測中的應用
　第三節(jié)　X射線熒光光譜儀研制進展
　參考文獻
第二章　基本原理
　第一節(jié)　特征X射線的產生與特性
　　一、特征X射線
　　二、特征譜線系
　　三、譜線相對強度
　　四、熒光產額
　第二節(jié)　X射線吸收
　　一、X射線衰減
　　二、吸收邊
　　三、吸收躍變
　　四、質量衰減系數的計算
　第三節(jié)　X射線散射
　　一、相干散射
　　二、非相干散射
　第四節(jié)　X射線熒光光譜分析原理
　第五節(jié)　X射線衍射分析
　參考文獻
第三章　激發(fā)源
　第一節(jié)　常規(guī)X射線光管
　　一、光管結構與工作原理
　　二、連續(xù)X射線譜
　　三、特征X射線譜
　　四、光管特性
　第二節(jié)　液體金屬陽極X射線光管
　第三節(jié)　冷X射線光管
　第四節(jié)　單色與選擇激發(fā)
　　一、濾光片
　　二、二次靶
　第五節(jié)　同位素源
　第六節(jié)　同步輻射光源與粒子激發(fā)
　第七節(jié)　聚束毛細管X射線透鏡
　第八節(jié)　X射線激光光源
　參考文獻
第四章　探測器
　第一節(jié)　波長色散探測器
　　一、流氣式氣體正比計數器
　　二、NaI閃爍計數器
　　三、波長色散探測器的逃逸峰
　第二節(jié)　能量探測器
　　一、能量探測原理
　　二、能量探測器組成與特性
　　三、能量探測器的逃逸峰
　第三節(jié)　新型能量探測器
　　一、Ge探測器
　　二、SiPIN探測器
　　三、Si漂移探測器(SDD)
　　四、電耦合陣列探測器(CDD)
　　五、超導躍變微熱量感應器(TES)
　　六、超導隧道結探測器(STJ)
　　七、CdZnTe探測器
　　八、鉆石探測器(CVDD)
　　九、無定形硅探測器(ASi)
　第四節(jié)　各種探測器性能比較
　　一、波長色散與能量色散能力
　　二、探測器分辨率比較
　　三、探測器的選用
　參考文獻
第五章　X熒光光譜儀
　第一節(jié)　波長色散X射線熒光光譜儀
　　一、X射線光管、探測器與光譜儀結構
　　二、分光晶體及分辨率
　　三、脈沖放大器和脈高分析器
　第二節(jié)　能量色散X射線熒光光譜儀
　第三節(jié)　同位素源激發(fā)X射線熒光光譜儀
　第四節(jié)　偏振激發(fā)X射線熒光光譜儀
　第五節(jié)　全反射X射線熒光光譜儀
　第六節(jié)　同步輻射X射線熒光光譜儀
　第七節(jié)　聚束毛細管透鏡微束XRF光譜儀
　參考文獻
第六章　定性與定量分析方法
　第一節(jié)　定性分析
　第二節(jié)　定量分析
　　一、獲取譜峰凈強度
　　二、干擾校正
　　三、濃度計算
　第三節(jié)　數學校正法
　第四節(jié)　實驗校正方法
　　一、標準化
　　二、內標法
　　三、標準添加法
　　四、散射線內標法
　第五節(jié)　實驗校正實例——散射線校正方法
　　一、散射效應與利用
　　二、濾光片對Compton峰和分析譜線的影響
　　三、準直器直徑對譜線的影響
　　四、Compton峰位隨濾光片材料的原子序數增加而產生漂移
　參考文獻
第七章 基本校正
第一節(jié) 基本參數法
一、理論熒光強度
二、相關基本參數計算
三、基本參數法
第二節(jié) 理論校正系數
一、基本影響系數
二、理論校正系數
三、系數變換
參考文獻
第八章 分析誤差和統(tǒng)計不確定
第一節(jié) 分析誤差和分布函數
一、分析誤差
二、分布函數
第二節(jié) 計數統(tǒng)計學
第三節(jié) 靈敏度、檢出限及XRF中的誤差來源
一、靈敏度和檢出限
二、XRF中的誤差來源
第四節(jié) 不確定度及不確定度計算
一、測量不確定度
二、統(tǒng)計不確定度
三、誤差傳遞與不確定度
四、不確定度計算式
五、平均值的不確定度計算
六、統(tǒng)計波動
參考文獻
第九章 XRF中的化學計量學方法和應用
第一節(jié) 曲線擬合與遺傳算法
一、遺傳算法
二、遺傳算法在XRF中的應用
三、不同擬合方法的比較
第二節(jié) 基體校正與神經網絡
一、神經網絡的發(fā)展與學習規(guī)則
二、神經網絡模型——誤差反傳學習算法
三、神經網絡及相關化學計量學方法在XRF中的應用
第三節(jié) 模式識別
一、模式識別方法與特性
二、支持向量機
三、模式識別方法在XRF中的應用
參考文獻
第十章 樣品制備
第一節(jié) 制樣技術分類
第二節(jié) 分析制樣中的一般問題
一、樣品的表面狀態(tài)
二、不均勻性效應
三、樣品粒度與制樣壓力
四、X射線分析深度與樣品厚度
五、樣品的光化學分解
六、其他問題
七、試樣裝入
八、污染控制
九、測定時須小心的樣品
第三節(jié) 金屬樣品的制備
一、取樣
二、金屬樣品的制備方法
第四節(jié) 粉末樣品的制備
一、粉末壓片法
二、玻璃熔片法
三、松散粉末法
第五節(jié) 液體樣品
一、液體法
二、點滴法
三、富集法
四、固化法
第六節(jié) 其他類型樣品的制備
一、塑料樣品的制備方法
二、放射性樣品
第七節(jié) 微少量、微小樣品的制備
第八節(jié) 低原子序數元素分析的特殊問題
第九節(jié) 樣品制備實例
一、全巖分析
二、石灰、白云石石灰和鐵石灰
三、石灰石、白云石和菱鎂礦
四、天然石膏及石膏副產品
五、玻璃砂
六、水泥
七、氧化鋁
八、電解液
九、煤衍生物——一瀝青
十、樹葉和植物
參考文獻
第十一章 X射線熒光光譜儀的特性與參數選擇
第一節(jié) 波長色散型X射線熒光光譜儀的特性與技術進展
第二節(jié) X射線高壓發(fā)生器
第三節(jié) X射線光管特性與選擇使用
第四節(jié) 濾光片、狹縫和準直器
第五節(jié) 晶體適用范圍及其選擇
第六節(jié) 2θ聯(lián)動裝置
第七節(jié) 測角儀
第八節(jié) 探測器特性與使用
一、閃爍計數器
二、氣體正比計數器
三、探測器的選擇標準
第九節(jié) 脈沖高度分析器
第十節(jié) 實驗參數的選擇
一、儀器參數的選擇
二、光學參數的選擇
三、探測器與測量參數的選擇
第十一節(jié) 能量色散XRF光譜儀的特性和注意事項
第十二節(jié) 全反射X射線熒光光譜儀特性與設計要點
參考文獻
第十二章 儀器檢定、校正與維修
第一節(jié) 儀器檢定
一、實驗室條件
二、檢驗項目及測量方法
三、技術指標
第二節(jié) 脈沖高度分析器的調整及儀器漂移的標正
一、脈沖高度分析器的調整
二、儀器漂移的校正
第三節(jié) 日常維護
一、真空泵油位檢查
二、P10氣體的更換
三、高壓漏氣檢測
四、密閉冷卻水循環(huán)系統(tǒng)的檢測
五、檢查初級水過濾器
六、X射線光管的老化
七、日常檢查項目
第四節(jié) 常見故障及維護
一、機械問題
二、X射線高壓發(fā)生器
三、真空度不好
四、探測器的故障
五、樣品室灰塵的清掃
第五節(jié) 儀器選型常用標準與判據
一、硬件
二、軟件
參考文獻