常見集成電路實(shí)用檢測(cè)數(shù)據(jù)手冊(cè)

第一章 國(guó)內(nèi)外常見集成電路型號(hào)的識(shí)別與命名方法 第一節(jié) 集成電路的分類、外形和引腳的識(shí)別方法 一、集成電路的分類 二、集成電路的外形識(shí)別 三、集成電路引腳的識(shí)別方法 (一)單列式集成電路引腳的識(shí)別方法 1.單列直插3腳、5腳的識(shí)別方法 2.單列直插7腳的識(shí)別方法 3.單列直插8腳及更多引腳的識(shí)別方法 (二)雙列式集成電路引腳的識(shí)別方法 (三)四列式集成電路引腳的識(shí)別方法 (四)其它封裝方式集成電路引腳的識(shí)別方法 1.菱形封裝方式集成電路引腳的識(shí)別方法 2.金屬管帽封裝方式集成電路引腳的識(shí)別方法 第二節(jié) 各種集成電路生產(chǎn)廠家的識(shí)別 第三節(jié) 世界各國(guó)集成電路型號(hào)的命名與識(shí)別方法 一、國(guó)外集成電路型號(hào)的命名與識(shí)別方法 1.日本松下公司集成電路的命名(見表1-3-1)與識(shí)另.1方法 2.日本日立公司(HITACHI)集成電路的命名(見表1-3-4)與識(shí)別方法 3.日本東芝公司(TOSHIBA)集成電路的命名(見表1-3-5)與識(shí)別方法 4.日本三菱公司(MITSUBISHI)集成電路的命名與識(shí)別方法 5.日本三洋公司(SANY0)的命名(見表1-3-8)與識(shí)別方法 6.日本索尼公司(SONY)的命名與識(shí)別方法 7.日本電氣公司(NECJ)/美國(guó)電子公司(NECE)的命名(見表1-3-13)與識(shí)別方法 8.美國(guó)無(wú)線電公司(RCA)的命名(見表1-3-14)與識(shí)別方法 9.美國(guó)摩托羅拉公司(MOTOROLA)的命名(見表1-3-15)與識(shí)別方法 10.美國(guó)國(guó)家半導(dǎo)體公司(NATIONAL SEMICONDUCTOR)的命名(見表1-3-16)與識(shí)別方法 11.美國(guó)英特錫爾公司(INTERSIL)的命名(見表1-3-17)與識(shí)別方法 12.美國(guó)仙童公司(FAIRCHILD)的命名(見表1-3-18)與識(shí)別方法 13.美國(guó)通用儀器公司(GENERAL INSTRUMENTS)的命名(見表1-3-19)與識(shí)別方法 14.美國(guó)模擬器件公司(ANALOG DEVICES)的命名(見表1-3-20)與識(shí)別方法 15.美國(guó)微功耗系統(tǒng)公司(MICRO POWZR SYTEMS)的命名(見表1-3-21)與識(shí) 別方法 16.美國(guó)西格尼蒂克公司(SIGNETICS)的命名(見表1-3-22)與識(shí)別方法 17.德國(guó)西門子公司(SIEMENS)的傘名(見表1-3-23)與識(shí)別方法 18.歐洲電子聯(lián)盟(PROELECTRON)的命名(見表1-3-24)與識(shí)別方法 19.德國(guó)德律風(fēng)根公司(TELEFUNKEN)的命名(見表1-3-25)與識(shí)別方法 20.意大利亞蒂斯電子元件公司(SGS-ATES SEMICONDUCTOR)的命名(見表1-3-26)與識(shí)別方法 二、我國(guó)集成電路型號(hào)的命名與識(shí)別方法第二章 常見的A系列集成電路實(shí)用檢測(cè)數(shù)據(jù)第三章 常見的B系列集成電路實(shí)用檢測(cè)數(shù)據(jù)第四章 常見的C系列集成電路實(shí)用檢測(cè)數(shù)據(jù)第五章 常見的D系列集成電路實(shí)用檢測(cè)數(shù)據(jù)第六章 常見的E系列集成電路實(shí)用檢測(cè)數(shù)據(jù)第七章 常見的F系列集成電路實(shí)用檢測(cè)數(shù)據(jù)第八章 常見的G系列集成電路實(shí)用檢測(cè)數(shù)據(jù)第九章 常見的H系列集成電路實(shí)用檢測(cè)數(shù)據(jù)第十章 常見的I系列集成電路實(shí)用檢測(cè)數(shù)據(jù)第十一章 常見的J系列集成電路實(shí)用檢測(cè)數(shù)據(jù)第十二章 常見的K系列集成電路實(shí)用檢測(cè)數(shù)據(jù)第十三章 常見的L系列集成電路實(shí)用檢測(cè)數(shù)據(jù)第十四章 常見的M系列集成電路實(shí)用檢測(cè)數(shù)據(jù)第十五章 常見的N系列集成電路實(shí)用檢測(cè)數(shù)據(jù)第十六章 常見的O系列集成電路實(shí)用檢測(cè)數(shù)據(jù)第十七章 常見的P系列集成電路實(shí)用檢測(cè)數(shù)據(jù)第十八章 常見的R系列集成電路實(shí)用檢測(cè)數(shù)據(jù)第十九章 常見的S系列集成電路實(shí)用檢測(cè)數(shù)據(jù)第二十章 常見的T系列集成電路實(shí)用檢測(cè)數(shù)據(jù)第二十一章 常見的U系列集成電路實(shí)用檢測(cè)數(shù)據(jù)第二十二章 常見的V系列集成電路實(shí)用檢測(cè)數(shù)據(jù)第二十三章 常見的W系列集成電路實(shí)用檢測(cè)數(shù)據(jù)第二十四章 常見的X系列集成電路實(shí)用檢測(cè)數(shù)據(jù)第二十五章 常見的Z系列集成電路實(shí)用檢測(cè)數(shù)據(jù)第二十六章 常見的μ系列集成電路實(shí)用檢測(cè)數(shù)據(jù)參考文獻(xiàn)