片上系統(tǒng)設(shè)計(jì)（影印版）

定　價(jià)：￥45.00

作　者：	（美）里卡多、等
出版社：	科學(xué)
叢編項(xiàng)：	國(guó)外電子信息精品著作
標(biāo)　簽：	數(shù)字系統(tǒng)設(shè)計(jì)

購(gòu)買(mǎi)這本書(shū)可以去

ISBN：	9787030182395	出版時(shí)間：	2007-01-01	包裝：	平裝
開(kāi)本：	B5	頁(yè)數(shù)：	233	字?jǐn)?shù)：

內(nèi)容簡(jiǎn)介

　　片上系統(tǒng)的研究由來(lái)已久，至今仍然保持著很強(qiáng)的生命力，并且越發(fā)活躍。該學(xué)科涉及面相當(dāng)廣泛，牽涉到半導(dǎo)體物理、電路涉及理論、仿真軟件、算法等各方面，其應(yīng)用也滲透到電子、通信、控制等的所有方面。.本書(shū)內(nèi)容新穎，實(shí)例豐富，全書(shū)介紹了芯片核心設(shè)計(jì)、計(jì)算機(jī)輔助設(shè)計(jì)工具、芯片測(cè)試方法三個(gè)方面，尤其針對(duì)基于SRAM的可編程門(mén)陣列（FPGA）相關(guān)的容錯(cuò)技術(shù)設(shè)計(jì)和可測(cè)性設(shè)計(jì)進(jìn)行了重點(diǎn)的討論。本書(shū)以FPGA芯片為例，提出了故障模型和可編程芯片結(jié)構(gòu)中故障造成的嚴(yán)重影響，介紹了現(xiàn)今采用的主要容錯(cuò)設(shè)計(jì)技術(shù)，并對(duì)基于SRAM的FPGA芯片相關(guān)的容錯(cuò)設(shè)計(jì)實(shí)例進(jìn)行分析和研究。本書(shū)對(duì)于國(guó)內(nèi)芯片可測(cè)性設(shè)計(jì)和分析、電路容錯(cuò)設(shè)計(jì)、FPGA芯片設(shè)計(jì)等領(lǐng)域來(lái)說(shuō)，是一部很有價(jià)值的參考書(shū)。..該書(shū)適應(yīng)面廣，無(wú)論對(duì)于該學(xué)科的專家、教授、研究生，還是本科生、普通技術(shù)人員都有極大的參考價(jià)值。...

作者簡(jiǎn)介

暫缺《片上系統(tǒng)設(shè)計(jì)（影印版）》作者簡(jiǎn)介

圖書(shū)目錄

1 Design of Systems on a Chip:Introduction
2 Microsystems Technology and Applications
3 Core Architectures for Digital Media and the Associated
4 Past,Present and Future of Microprocessors
5 Physical Design Automation
6 Behavioral Synthesis:An Overview
7 Hardware/Software Co-design
8 Test and Design-for-Test:From Circuits to Integrated Systems
9 Synthesis of FPGAs and Testable ASICs
10 Testable Design and Testing of Microsytems
11 Embedded Core-based System-on-Chip Test Strategies
Index of Authors