現(xiàn)代物理測試技術(shù)（普通高等教育“九五”國家級重點教材梁志德）

定　價：￥29.00

作　者：	梁志
出版社：	冶金工業(yè)出版社
叢編項：
標(biāo)　簽：	冶金

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ISBN：	9787502431860	出版時間：	2003-03-01	包裝：	簡裝本
開本：	16開	頁數(shù)：	239	字?jǐn)?shù)：

內(nèi)容簡介

　　《現(xiàn)代物理測試技術(shù)》是高等學(xué)交教材科學(xué)與工程學(xué)科的本科生教材之一。內(nèi)容包括材料的物理測試技術(shù)中廣泛應(yīng)用的X射線衍射分析、透射電鏡分析以及應(yīng)用日廣的掃描電鏡及其EBSP分析、中子衍射分析和正受關(guān)注的某些表面分析技術(shù)。教材著重闡述各項技術(shù)及相應(yīng)設(shè)備的工作原理，力求概念正確、清晰、形象。為便于學(xué)習(xí)，增加晶體學(xué)概要一章，并在各章后附有適量的習(xí)題。本書適用于金屬材料及無機(jī)非金屬材料等專業(yè)的教學(xué)；材料科學(xué)與工程其他各專業(yè)亦可參考或采用。

作者簡介

　　梁志德，1929年生，河北豐潤人，1951年北洋大學(xué)冶金系華業(yè)，現(xiàn)為東北大學(xué)教授、博士生導(dǎo)師。一直從事教學(xué)與科研工作。因系統(tǒng)發(fā)展了現(xiàn)代織構(gòu)分析（ODF分析）而為國際組織界所重視，應(yīng)邀擔(dān)任《Textures and Microstructures》編委及國際材料組織會議（ICONTOM）常設(shè)國際委員會委員，1997年被選為亞洲太平洋材料科學(xué)院成員；出版專著7部，發(fā)表論文百余篇，獲省部級自然科學(xué)、科技進(jìn)步獎10余項。

圖書目錄

1 晶體學(xué)概要
1.1 晶體的對稱性
1.2 點群與晶系
1.3 晶體結(jié)構(gòu)、空間點陣、空間群
1.4 晶體學(xué)參數(shù)
1.5 晶帶
1.6 倒易點陣
1.7 晶體投影
習(xí)題
2 X射線及其與物質(zhì)的相互作用
2.1 X射線的性質(zhì)
2.2 X射線的產(chǎn)生
2.3 X射線管的X射線譜
2.4 X射線在物質(zhì)中的衰減
2.5 X射線的防護(hù)
習(xí)題
3 X射線衍射實驗基礎(chǔ)
3.1 一個電子射X射線的散射
3.2 一個原子對X射線的散射
3.3 簡單晶體對X射線的衍射
3.4 復(fù)雜晶體對X射線的衍射
3.5 衍射實驗方法概要
3.6 衍射實驗的愛瓦德作圖法
習(xí)題
4 X射線衍射基本實驗技術(shù)
4.1 粉末照相法
4.2 多晶衍射儀法
4.3 X射線能量色散測量
4.4 多晶衍射花樣的度量和指數(shù)化
4.5 多晶衍射技術(shù)的發(fā)展
4.6 單晶衍射技術(shù)——勞埃法
習(xí)題
5 X射線（多晶）衍射技術(shù)的若干應(yīng)用
5.1 晶塊尺寸與微觀應(yīng)力的測定
5.2 晶胞常數(shù)的精確測定
5.3 織構(gòu)的測定
5.4 宏觀應(yīng)力的測定
5.5 物相分析
5.6 晶體結(jié)構(gòu)
6 X射線小角度用射、貌相分析及擴(kuò)展X射線吸收譜分析簡介
6.1 X射線小角度散射
6.2 X射線衍射貌相分析
6.3 擴(kuò)展X射級吸收精細(xì)結(jié)構(gòu)
習(xí)題
7 透射電子顯微鏡的結(jié)構(gòu)與功能
7.1 電子波
7.2 電子透鏡
7.3 電子顯微鏡的構(gòu)成
習(xí)題
8 電鏡中的電子衍射分析
8.1 斑點花樣及其解釋
8.2 菊池線花樣
8.3 會聚束衍射花樣（CBDP）簡介
習(xí)題
9 電鏡顯微圖像及其解釋
10 掃描電子顯微鏡
11 電子衍射簡介
12 表面探針及掃描隧道顯微鏡簡介
主要參考文獻(xiàn)