萬(wàn)用表檢測(cè)技術(shù)（上）

第1章 檢測(cè)半導(dǎo)體二極管
1.1 判定二級(jí)管正、負(fù)極的方法
1.2 檢測(cè)二級(jí)管質(zhì)量好壞的方法
1.3 區(qū)分硅二極管與鍺二極管的方法之一
1.4 區(qū)分硅二極管與鍺二極管的方法之二
1.5 測(cè)量二極管反向擊穿電壓的方法
1.6 測(cè)繪二極管伏安特性的方法
1.7 檢測(cè)高速開(kāi)關(guān)二極管的方法
第2章 檢測(cè)特種半導(dǎo)體二極管
2.1 檢測(cè)快恢復(fù)、超快恢復(fù)二極管的方法
2.2 檢測(cè)消特基二極管的方法
2.3 檢測(cè)隧道二極管的方法
2.4 檢測(cè)變?nèi)荻O管的方法
第3章 檢測(cè)穩(wěn)壓管
3.1 穩(wěn)壓管的產(chǎn)品分類(lèi)
3.2 區(qū)分穩(wěn)壓管與二極管的方法
3.3 檢測(cè)穩(wěn)壓管質(zhì)量好壞的方法
3.4 測(cè)量穩(wěn)壓管電壓的方法
3.5 測(cè)量穩(wěn)壓管伏安特性的方法
第4章 檢測(cè)恒流源
4.1 恒流源的產(chǎn)品分類(lèi)
4.2 檢測(cè)恒流二極管的方法
4.3 檢測(cè)恒流三極管的方法
4.4 檢測(cè)可調(diào)式精密集成恒流源的方法
4.5 測(cè)繪穩(wěn)流管伏安特性的方法
第5章 檢測(cè)整流器件
5.1 檢測(cè)整流二極管的方法
5.2 檢測(cè)整流橋的方法
5.3 檢測(cè)高壓硅堆的方法
第6章 檢測(cè)雙極型晶體管
6.1 判定晶體管電極的方法
6.2 準(zhǔn)確判定晶體管C、E電極的方法
6.3 區(qū)分硅晶體管與鍺晶體管的方法
6.4 區(qū)分高頻管與低頻管的方法
6.5 測(cè)量晶體管穿插透電流的方法
6.6 測(cè)量晶體管反向截止電流的方法
6.7 測(cè)量晶體管擊穿電壓的方法
6.8 估測(cè)晶體管放大能力的方法
6.9 估測(cè)晶體管hFE的方法
6.1 準(zhǔn)確測(cè)量晶體管hFE的簡(jiǎn)便方法
6.11 測(cè)量在線(xiàn)晶體管hFE的一般方法
6.12 測(cè)量晶體管的hFE一般方法
6.13 利用LI刻度線(xiàn)測(cè)量晶體管hFE的方法
6.14 檢測(cè)片狀晶體管的方法
6.15 判定晶體管工作狀態(tài)的方法
6.16 測(cè)繪晶體管正向AGC特性的方法
6.17 晶體管放大器故障速查法
6.18 估測(cè)功率晶體管放大能力的方法
6.19 估測(cè)功率晶體管hFE的方法
6.2 檢測(cè)功率開(kāi)關(guān)管的方法
6.21 檢測(cè)達(dá)林頓管的方法
6.22 檢測(cè)微型高增益達(dá)林頓管的方法
6.23 檢測(cè)巨型晶體管的方法
6.24 檢測(cè)差分對(duì)管的方法
6.25 檢測(cè)互補(bǔ)對(duì)管的方法
第7章 檢測(cè)場(chǎng)效應(yīng)管
7.1 判定結(jié)型場(chǎng)效應(yīng)管電極的方法
7.2 檢查結(jié)型場(chǎng)效應(yīng)管質(zhì)量好壞的方法
7.3 估測(cè)結(jié)型場(chǎng)效應(yīng)管放大能力的方法
7.4 測(cè)量結(jié)型場(chǎng)效應(yīng)管漏-源通態(tài)電陰及零偏壓跨導(dǎo)的方法
7.5 測(cè)量結(jié)型場(chǎng)效應(yīng)管柵-源截止電壓的方法
7.6 測(cè)量結(jié)型場(chǎng)效應(yīng)管零偏壓漏極電流及飽和區(qū)跨導(dǎo)的方法
7.7 測(cè)量結(jié)型場(chǎng)效應(yīng)管擊穿插電壓的方法
7.8 檢測(cè)MOS場(chǎng)效應(yīng)管的方法
7.9 檢測(cè)VMOS場(chǎng)效應(yīng)管的方法
7.1 檢測(cè)IGBT的方法
第8章 檢測(cè)單結(jié)晶體管
8.1 判定單結(jié)晶體管電極的方法
8.2 檢查單結(jié)晶體管觸發(fā)能力的方法
8.3 估測(cè)單結(jié)晶體管分壓比及峰值電壓的方法
8.4 測(cè)量單結(jié)晶體管分壓比的方法
8.5 測(cè)量程控制單結(jié)晶體管的方法
第9章 檢測(cè)晶閘管
9.1 判定普通晶閘管和快速晶閘管電極的方法
9.2 檢查晶閘管觸發(fā)能力的方法
9.3 測(cè)量晶閘管斷態(tài)峰值電壓的方法
9.4 判定雙向晶閘管的電極并檢查觸發(fā)能力的方法
9.5 檢查大功率雙向晶閘管觸發(fā)能力的方法
9.6 檢測(cè)雙向晶閘管質(zhì)量好壞的方法
9.7 檢測(cè)雙向二極管的方法
9.8 檢測(cè)硅單向開(kāi)關(guān)的方法
9.9 檢測(cè)硅雙向開(kāi)關(guān)的方法
9.1 檢測(cè)可關(guān)斷晶閘管的方法
9.11 檢測(cè)硅控制開(kāi)關(guān)的方法
9.12 檢測(cè)逆導(dǎo)晶閘管的方法
第1章 檢測(cè)光電器件
1.1 檢測(cè)單色發(fā)光二極管的方法
1.2 區(qū)分高亮度、低亮度發(fā)光二極管的方法
1.3 檢測(cè)微型發(fā)光二極管的方法
1.4 檢測(cè)藍(lán)色高亮度發(fā)光二極管的方法
1.5 檢測(cè)白色高亮度發(fā)光二極管的方法
1.6 檢測(cè)雙色發(fā)光二極管的方法
1.7 檢測(cè)三變色發(fā)光二極管的方法
1.8 測(cè)量發(fā)光二極管正向電壓的方法
1.9 同時(shí)測(cè)量發(fā)光二極管正向電流和正向電壓的方法
1.1 測(cè)繪發(fā)光二極管伏安特性的方法
1.11 測(cè)繪變色發(fā)光二極管伏安特性的方法
1.12 檢測(cè)電壓控制型發(fā)光二極管的方法
1.13 檢測(cè)閃爍發(fā)光二極管的方法
1.14 檢測(cè)負(fù)阻型發(fā)光二接管的方法
1.15 檢測(cè)光電管的方法
1.16 檢測(cè)光電二極管的方法
1.17 檢測(cè)光敏三極管的方法
1.18 檢測(cè)紅外發(fā)射、接收對(duì)管的方法
1.19 檢測(cè)光電開(kāi)關(guān)的方法
1.2 檢測(cè)光敏電阻的方法
第11章 檢測(cè)光耦合器
11.1 檢測(cè)光耦合器的方法
11.2 測(cè)量光耦合器主要參數(shù)的方法
11.3 估測(cè)光耦合器電流傳輸能力的方法
11.4 測(cè)量光耦合器電流傳輸比的方法
11.5 區(qū)分通用型與達(dá)林頓型光耦合器的方法
11.6 檢測(cè)線(xiàn)性光耦合器的方法
第12章 檢測(cè)顯示器件
12.1 常顯示器件的產(chǎn)品分類(lèi)
12.2 檢測(cè)輝光數(shù)碼管的方法
12.3 檢測(cè)熒光碼管的方法
12.4 檢測(cè)LED數(shù)碼管的方法
12.5 檢測(cè)大型LED數(shù)碼管的方法
12.6 區(qū)分高亮度、普通亮度LED數(shù)碼管的方法
12.7 檢測(cè)LED符號(hào)管的方法
12.8 檢測(cè)LED電平顯示器的方法
12.9 檢測(cè)LED條圖顯示器的方法
12.1 檢測(cè)雙位及三位LED數(shù)碼管的方法
12.11 檢測(cè)雙位LED掃描顯示器的方法
12.12 檢測(cè)單色LED點(diǎn)陣顯示器的方法
12.13 檢測(cè)彩色LED點(diǎn)陣顯示器的方法
12.14 檢測(cè)微型化多位LED點(diǎn)陣顯示器的方法
12.15 檢測(cè)LED面發(fā)光器件的方法
12.16 檢測(cè)CMOS-LED組件的方法
12.17 檢測(cè)多位CMOS-LED組件的方法
12.18 檢測(cè)靜態(tài)驅(qū)動(dòng)式LCD的方法
12.19 檢測(cè)掃描驅(qū)動(dòng)式LCD的方法
12.2 檢測(cè)LCD點(diǎn)陣顯示器的方法
12.21 檢測(cè)CRT像元管的方法
12.22 檢測(cè)磁翻板顯示器的方法