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近代光學測試技術

近代光學測試技術

定 價:¥39.00

作 者: 楊國光主編
出版社: 浙江大學出版社
叢編項:
標 簽: 光學計量

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ISBN: 9787308019514 出版時間: 1997-01-01 包裝: 平裝
開本: 26cm 頁數(shù): 字數(shù):  

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暫缺《近代光學測試技術》作者簡介

圖書目錄

前章  光學測試技術綜述
編著:楊國光
§0-1 領域與特點
一、研究領域
二、技術特色
§0-2 技術現(xiàn)狀
§0-3 方法的選擇
§0-4 技術發(fā)展的方向
本章參考文獻
第一章 光干涉技術
 編著:卓永模
§1-1 光干涉的基礎知識
一、相干光場的性質(zhì)
  二、兩個相干波的疊加
  三、部分相干理論
 四、干涉儀常用的光源及激光光源
 五、干涉條紋的間隔和形狀
§l-2 近代干涉測試技術
 一、泰曼一格林干涉儀測試
 二、典型的雙光束干涉圖及其分析
 三、任意波前的干涉圖分析
 四、共路干涉儀測試
§1-3 多通道干涉儀測試
  一、雙通道干涉儀
 二、多通道干涉儀
§1—4 波面位相的實時檢測技術
 一、條紋掃描波面位相實時檢測
  二、共路錯位掃描干涉儀
 三、實時橫向錯位干涉儀
 四、外差干涉位相檢測
 五、鎖相干涉技術
 六、雙波長條紋掃描干涉儀
 七、空間調(diào)制的波面位相檢測
§1-5 長度(間隔、高度、振幅)的激光干涉
 一、激光干涉測長的工作原理及特點
 二、激光干涉測長應解決的幾個問題
 三、激光干涉測長的應用
……

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