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計算機測試與控制

計算機測試與控制

定　價：￥3.85

作　者： 李行善編著
出版社： 北京航空航天大學(xué)出版社
叢編項：
標(biāo)　簽： 微型計算機
ISBN： 9787810121453 出版時間： 1990-01-01 包裝：
開本： 26cm 頁數(shù)： 299頁 字?jǐn)?shù)：  

內(nèi)容簡介

　　本書從應(yīng)用角度全面闡述了采用微型計算機解決測控問題時所涉及的軟、硬件技術(shù)問題。

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