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數(shù)理統(tǒng)計(jì)理論與方法在痕量分析中的應(yīng)用

數(shù)理統(tǒng)計(jì)理論與方法在痕量分析中的應(yīng)用

定 價(jià):¥15.00

作 者: (羅馬尼亞)C·利特安努,(羅馬尼亞)I·里卡著;吳乾文等譯
出版社: 原子能出版社
叢編項(xiàng):
標(biāo) 簽: 痕量分析

ISBN: 9787502200923 出版時(shí)間: 1990-01-01 包裝:
開本: 21cm 頁數(shù): 475頁 字?jǐn)?shù):  

內(nèi)容簡介

  本書內(nèi)容:內(nèi)容分析測量數(shù)據(jù)處理中用的統(tǒng)計(jì)元、結(jié)果的信息處理、分析系統(tǒng)的穩(wěn)定性、信號與濃度的關(guān)系,分析信號檢測、化學(xué)分析的檢測限、痕量測定,提高分析化學(xué)中的信噪比等。

作者簡介

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圖書目錄

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