可靠性設(shè)計與分析

第一篇系統(tǒng)可靠性設(shè)計與分析
第1章緒論.
1.1概述
1.2設(shè)計思想的轉(zhuǎn)變
1.3進行可靠性設(shè)計與分析應(yīng)明確及注意的一些問題
1.4系統(tǒng)可靠性設(shè)計與分析的主要內(nèi)容
第2章武器裝備的可靠性參數(shù)及指標
2.1可靠性及其度量
2.2常用的一些可靠性參數(shù)及其分類
2.3可靠性參數(shù)與指標的特點
2.4參數(shù)選擇和指標確定的依據(jù)和要求
2.5參數(shù)及其量值的轉(zhuǎn)換
2.6國外若干武器裝備的可靠性參數(shù)和指標
第3章系統(tǒng)可靠性模型的建立.可靠性預(yù)計和分配
3.1可靠性模型的建立
3.2系統(tǒng)可靠性預(yù)計
3.3系統(tǒng)可靠性分配
第4章故障模式影響及危害性分析和故障樹分析
4.1故障模式影響及危害性分析
4.2故障樹分析
第5章可靠性設(shè)計方法
5.1概述
5.2制定和貫徹可靠性設(shè)計準則
5.3元器件.零部件的控制
5.4降額設(shè)計
5.5簡化設(shè)計
5.6余度技術(shù)
5.7耐環(huán)境設(shè)計
5.8熱設(shè)計
5.9非電子產(chǎn)品可靠性設(shè)計
5.10確定功能測試.包裝.貯存.裝卸.運輸及維修對可靠性的影響
5.11健壯設(shè)計..
5.12潛在通路分析
5.13軟件可靠性
5.14容錯技術(shù)
第二篇電子元器件的選擇和應(yīng)用
第6章概述
6.1控制電子元器件選擇和使用的重要性
6.2國內(nèi)外控制元器件的措施
6.3本篇內(nèi)容簡介
第7章半導體分立器件的選擇與應(yīng)用
7.1半導體分立器件選擇的一般要求
7.2半導體分立器件應(yīng)用的一般要求
7.3二極管的分類和類型選擇
7.4開關(guān)二極管
7.5整流二極管
7.6電壓調(diào)整二極管
7.7電壓基準二極管
7.8電流調(diào)整二極管
7.9變?nèi)荻O管
7.10瞬變電壓抑制二極管
7.11光電二極管
7.12微波二極管
7.13晶體管的分類及類型選擇
7.14小功率晶體管(包括小信號放大.開關(guān).斬波等)
7.15功率晶體管
7.16場效應(yīng)晶體管
7.17閘流晶體管
7.18光敏晶體管和光電耦合器
7.19微波晶體管
7.20微波雙極晶體管
7.21微波場效應(yīng)管
7.22新型微波晶體管(近年來發(fā)展起來)
第8章微電路的選擇和應(yīng)用
8.1微電路選擇的一般要求
8.2微電路應(yīng)用的一般要求
8.3數(shù)字微電路選擇的一般要求
8.4CMOS數(shù)字微電路
8.5TTL數(shù)字微電路
8.6模擬微電路的選擇和應(yīng)用
8.7接口微電路的選擇和應(yīng)用
8.8微型計算機與存儲器微電路的選擇和應(yīng)用
8.9混合微電路的選擇和應(yīng)用
第9章電阻器.電容2S的選擇和應(yīng)用
9.1電阻器的選擇
9.2電阻器的應(yīng)用
9.3電容器的選擇
9.4電容器的應(yīng)用
第10章電子元器件的篩選
10.1概述
10.2各項試驗方法和試驗技術(shù)簡介
10.3篩選順序確定原則
附錄
附錄A非工作電子元器件及設(shè)備的可靠性預(yù)計
附錄B武器裝備可靠性設(shè)計準則(示例)
附錄C設(shè)備可靠性設(shè)計準則(示例)
參考文獻...