材料結(jié)構(gòu)分析基礎(chǔ)（材料類(lèi)）

出版說(shuō)明
序
前言
第一章 物理學(xué)基礎(chǔ)
1.1粒子與波
1.1.1光與X射線
1.1.2電子與離子
1.2原子、分子結(jié)構(gòu)與光譜
1.2.1原子的殼層結(jié)構(gòu)
1.2.2特征輻射
1.2.3俄歇電子
1.2.4核能級(jí)與γ輻射
1.3帶電粒子在電磁場(chǎng)中的運(yùn)動(dòng)
1.3.1帶電粒子的輻射
1.3.2電磁場(chǎng)對(duì)帶電粒子的作用
1.3.3電子透鏡
1.4帶電粒子與物質(zhì)的相互作用
1.4.1一般概念
1.4.2電子與物質(zhì)的相互作用
1.4.3離子與物質(zhì)的相互作用
1.5光與物質(zhì)的相互作用
1.5.1散射
1.5.2吸收與衰減
1.5.3吸收體的物理效應(yīng)
1.6衍射與成像
1.6.1衍射基本原理
1.6.2縫、孔衍射
1.6.3光柵衍射
1.6.4透鏡成像
例題
習(xí)題
第二章 晶體學(xué)基礎(chǔ)
2.1晶體結(jié)構(gòu)
2.1.1晶體與非晶體
2.1.2晶體點(diǎn)陣
2.2晶體的對(duì)稱(chēng)性
2.2.1對(duì)稱(chēng)的概念
2.2.2晶體的宏觀對(duì)稱(chēng)性
2.2.3晶體的微觀對(duì)稱(chēng)性
2.2.4常見(jiàn)的晶體結(jié)構(gòu)
2.3晶面與晶向
2.3.1晶面指數(shù)與晶向指數(shù)
2.3.2晶面間距、晶面夾角
2.3.3廣義晶面與倒易矢量
2.3.4晶帶
2.4晶體投影
2.4.1球面投影
2.4.2極射平面投影和烏氏網(wǎng)
2.4.3標(biāo)準(zhǔn)投影圖
2.5晶體衍射理論(一)
2.5.1晶體衍射的運(yùn)動(dòng)學(xué)理論
2.5.2勞埃方程與布拉格方程
2.5.3勞埃方程和布拉格方程的不確定性
2.6晶體衍射理論(二)
2.6.1原子及其群體的衍射
2.6.2晶胞衍射
2.6.3單晶體衍射
2.6.4多晶體衍射
例題
習(xí)題
第三章 光學(xué)分析
3.1光的檢測(cè)
3.2光學(xué)顯微分析
3.2.1光學(xué)金相顯微鏡
3.2.2顯微鏡光學(xué)性能
3.2.3樣品制備
3.2.4顯微鏡觀察方式
3.2.5金相攝影
3.2.6定量金相
3.2.7偏振光金相
3.2.8相襯金相
3.2.9顯微硬度及其測(cè)定
3.2.10高溫金相
3.2.11低倍觀察方法
3.3光學(xué)光譜分析
3.3.1原子發(fā)射光譜儀
3.3.2光量計(jì)
3.3.3原子吸收光譜儀
習(xí)題
第四章 X射線分析
4.1X射線的檢測(cè)
4.1.1光學(xué)檢測(cè)法
4.1.2光子檢測(cè)器
4.2粉末衍射分析
4.2.1粉末衍射原理
4.2.2粉末衍射儀
4.2.3樣品制備與掃描測(cè)試
4.2.4衍射圖譜
4.2.5單相物質(zhì)的晶型分析
4.2.6物質(zhì)的物相定性分析
4.2.7物質(zhì)的物相定量分析
4.2.8點(diǎn)陣常數(shù)的精確測(cè)定
4.2.9宏觀應(yīng)力分析
4.2.10微晶尺寸和微觀應(yīng)力的測(cè)試
4.3單晶衍射分析
4.3.1勞埃法
4.3.2旋轉(zhuǎn)晶體法
4.3.3多晶織構(gòu)分析與針孔法
4.4X射線光譜分析
4.4.1概述
4.4.2X射線熒光譜儀
4.4.3電子探針X射線顯微分析儀
習(xí)題
第五章 電子束分析
5.1電子的檢測(cè)
5.1.1光學(xué)方法
5.1.2電子檢測(cè)器
5.2透射電子顯微鏡
5.2.1儀器構(gòu)造
5.2.2儀器性能
5.2.3樣品制備
5.2.4成像方式
5.2.5電子衍射圖像分析
5.2.6透射電子顯微圖像分析
5.3掃描電子顯微分析
5.3.1電子束轟擊固體樣品激發(fā)的物理信號(hào)
5.3.2儀器結(jié)構(gòu)與工作原理
5.3.3儀器性能
5.3.4樣品制備
5.3.5掃描圖像分析
5.3.6微區(qū)成分分析
5.3.7晶體學(xué)分析
5.3.8掃描透射電子顯微分析
5.4表面分析
5.4.1低能電子衍射
5.4.2俄歇電子能譜
5.4.3X射線光電子能譜
5.4.4探針掃描顯微分析
習(xí)題
第六章 離子束分析
6.1離子的檢測(cè)
6.1.1光學(xué)檢測(cè)方法
6.1.2電檢測(cè)方法
6.2質(zhì)譜分析
6.2.1質(zhì)譜儀基本結(jié)構(gòu)
6.2.2質(zhì)譜儀主要性能與質(zhì)譜圖
6.2.3質(zhì)譜分析方法
6.3離子作為探束的表面分析
6.3.1離子散射譜
6.3.2二次離子質(zhì)譜
6.3.3離子顯微鏡
6.4場(chǎng)離子顯微鏡
習(xí)題
附錄
Ⅰ 一些元素常用的紫外、可見(jiàn)光譜線
Ⅱ 元素的主要K、L系譜線的波長(zhǎng)
Ⅲ 化學(xué)元素K、L系主要譜線的光子能量
Ⅳ 元素的吸收限波長(zhǎng)
Ⅴ 元素對(duì)X射線的質(zhì)量吸收系數(shù)
Ⅵ 原子散射因子
Ⅶ 原子散射因子修正值
Ⅷ 一些物質(zhì)的德拜溫度
Ⅸ 多重性因子
Ⅹ 立方晶體晶面(或晶向)夾角數(shù)值
Ⅺ 立方晶體標(biāo)準(zhǔn)投影圖
Ⅻ 面心立方晶體電子衍射圖譜
?? 體心立方晶體電子衍射圖譜
?? 密排六方晶體電子衍射圖譜
?? 常用材料分析方法名稱(chēng)及英文縮寫(xiě)